1,、影響等離子體溫度的因素有：
①載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降,；
②載氣的壓力：激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加,；
③頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而增高，近似線性關系,，在其他條件相同時,，增加頻率，放電溫度降低,；
④第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑的等離子體,，電子溫度將增加。
2,、電離干擾的消除和抑制：
原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產生的干擾,。它使火焰中分析元素的中性原子數減少,，因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素,，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當高的水平上,，從而抑制或消除分析元素的電離。此外,，由于溫度愈高,，電離度愈大，因此,，降低溫度也可減少電離干擾,。
3、試劑酸度對ICP-AES法的干擾效應主要表現(xiàn)在哪些方面,？
提升率及其中元素的譜線強度均低于水溶液,；隨著酸度增加，譜線強度顯著降低,；各種無機酸的影響并不相同,，按下列順序遞增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；譜線強度的變化與提升率的變化成正比例,。所以在ICP測試中,，應盡量的避免使用H3PO4 H2SO4作為介質進行狹縫校正。
4,、ICP-AES法中的光譜干擾主要存在的類型：
譜線干擾,；譜帶系對分析譜線的干擾；連續(xù)背景對分析譜線的干擾,；雜散光引起的干擾,；基體干擾；抑制干擾等,。對于譜線干擾,，一般選擇更換譜線，連續(xù)背景干擾一般用儀器自帶的扣背景的方法消除,，基體干擾一般基體區(qū)配或標準加入法,，抑制干擾一般是分離或基體區(qū)配。
5,、ICP-AES法分析中靈敏度漂移的校正：
在測定過程中,，氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態(tài)原子的分布；另外,，毛細管阻塞,、廢液排泄不暢，會使溶液提升量和霧化效率受到影響；以及電壓變化甚至環(huán)境溫度等諸多因素都會使靈敏度發(fā)生漂移,，其校正方法可每測10個樣品加測一個與樣品組成接近的質控樣,，并根據所用儀器的新舊程度適當縮短標準化的時間間隔。
6,、ICP分析中如何避免樣品間的互相沾污,？
測量時，不要依次測量濃度懸殊很大的樣品,，可把濃度相近的樣品放在一起測定,，測定樣品之間，應用蒸餾水沖洗,，進標準樣品測試標準曲線時,，應該從低標到高標儀次進樣。
7,、ICP-AES法中,，用來分解樣品的酸，必須滿足的條件：
盡可能使各種元素迅速,、*分解,；所含待測元素的量可忽略不計；分解樣品時,，待測元素不應損失,；與待測元素間不形成不溶性物質；測定時共存元素的影響要??；不損傷霧化器、炬管等,。氫氟酸能很快的損壞霧化器,、霧室和炬管。
8,、在ICP-AES法中,，為什么必須特別重視標準溶液的配置？
不正確的配置方法將導致系統(tǒng)偏差的產生,；介質和酸度不合適,，會產生沉淀和渾濁,；元素分組不當,，會引起元素間譜線干擾；試劑和溶劑純度不夠,，會引起空白值增加,、檢測限變差和誤差增大。
9、配制ICP分析用的多元素貯備標準溶液的注意事項：
溶劑用高純酸或超純酸,；用重蒸的離子交換水,；使用光譜純、高純或基準物質,；把有的元素元素分成幾組配制,，避免譜線干擾或形成沉淀。比如測硅時就要單獨測硅,。
10,、當采用有機試劑進行ICP分析時，有哪些特殊要求,？
高頻功率一般應高于水溶液試樣,；冷卻氣流量要增高，載氣流量要減少,，同時應通入較高流量的輔助氣,；對炬管的結構和安裝也有某些特殊要求；多采用鏈狀結構的有機溶劑作稀釋劑,。
11,、什么叫稀釋劑?ICP-AES法用的稀釋劑有哪些要求？
一般粘度大的試樣,，用氣動霧化進樣較難,，常用低粘度的有機溶劑去稀釋試樣，這種有機溶劑稱為稀釋劑,。對其要求有：①粘度較低,；②分子中的碳原子數較少；③有中等的揮發(fā)性,；④不產生或少產生有毒氣體,；⑤ 允許有較高的進樣量而不致使等離子體熄滅；⑥在炬管口產生的碳沉積較少,。
12,、稀釋劑對ICP分析有哪些影響？
稀釋劑的粘度對霧化進樣,、速率產生影響,；密度、粘度和表面張力影響形成霧滴的初始致敬,；沸點影響霧滴的揮發(fā)及進入ICP通道的有機溶劑蒸發(fā)量,，從而影響ICP的穩(wěn)定性。
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