Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

Dimension Edge 原子力顯微鏡

Dimension家族新成員,，閉環(huán)掃描,，*性價比

快速測量、結(jié)果準(zhǔn)確,、圖像分辨率高

測試范圍廣,，適用于任何樣品的測試

*進的納米尺度測量，適用于各技術(shù)水平

Dimension Edge

性價比高，大樣品臺AFM的解決方案

Dimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù),， 其儀器性能,、測試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平?；贒imension Icon®平臺, Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計使其 具有低漂移,、低噪音的特點, 大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性，使用這臺全新的儀器,，幾分鐘時間即可獲得高質(zhì)量,、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù)。這些檢測性能的提高,，并沒有影響儀器,，低于您對如此高性能原子力顯微鏡的支出預(yù)算。此外,，視覺反饋集成化和預(yù)配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測量結(jié)果,。整套儀器充滿人性化的設(shè)計，適用于各個研究階段和科研水平的用戶,。

Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

性價比高的閉環(huán)Dimension系列AFM

傳感器設(shè)計既獲得了閉環(huán)的精度,，又具有 開環(huán)的噪音水平。

顯著地降低噪音和漂移,，在大樣品臺AFM上實現(xiàn) 了小樣品臺AFM的成像性能,。

顯微鏡和電路的設(shè)計既保證了高成像性能。

快速,，高分辨的測量結(jié)果

全新的可視化操作界面,整體采用流程式設(shè)計,，確保快速簡便的設(shè)定各步驟參數(shù)

5百萬像素 的高分辨率相機和馬達驅(qū)動可編程平臺,，提供快速樣品導(dǎo)航和高效多點測量

從大范圍掃描到高分辨檢測的無縫過渡 可在短時間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果,。

適用于任何樣品上的任何應(yīng)用的解決方案

開放式平臺設(shè)計可適應(yīng)各種實驗和樣品的需求。

新儀器的設(shè)計和軟件利用了完備的Bruke  AFM掃描模式和檢測技術(shù),，滿足前沿的應(yīng)用需求。

內(nèi)置的信號路由模塊,，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實驗需求,，自定義檢測模式。

*進的納米級測量能力,，適用于各研究水平

創(chuàng)新型模塊化設(shè)計,，不提高儀器成本的前提下，實現(xiàn)更高的測量性能,。

8型軟件,，凝聚10幾年AFM專業(yè)研發(fā)精華，常規(guī)掃描模式外,，根據(jù)實驗需求,，配備各種備選模式,。

完整的控制平臺，既可直觀導(dǎo)航,，又可進行強大的編程控制,。

DIMENSION系列AFM提供了優(yōu)質(zhì)的AFM性能

Dimension Edge原子力顯微鏡既具有好性能，保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新,，中等價位與儀器功能達到了好的平衡,。其中核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描，結(jié)合溫度補償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路,，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個化學(xué)鍵長度,。為了大限度的發(fā)揮這一優(yōu)點，掃描器被固定在一個堅固的,，具有漂移補償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上,。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率。因此,，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率,，高精度，大樣品臺的樣品通用性,，閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺,、開環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點，能夠獲得任何樣品的真實圖像,，實現(xiàn)突破性的實驗成果,。

完備的AFM功能

Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker技術(shù)，還提供了針對各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案,，例如納米級的電學(xué)測量,，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應(yīng)用中獲得成像和單點譜線測量,，例如從太陽能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像,，到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個納米顆粒的研究。

電學(xué)表征

Dimension Edge不僅僅是把一個AFM探針連接到低噪音電流放大器上,，而是開發(fā)了Dark Lift模式,，Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的方法。它是基于布魯克的,，應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中著名 的抬起模式（Lift Mode）,。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢成像應(yīng)用的優(yōu)化測試。迄今為止,，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對摻雜濃度表征的解決方案,。然而，如果研究者想要以高靈敏度來探測小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢顯微鏡結(jié)合起來,。Dimension Edge系統(tǒng)通過雙頻的方法,，能夠為任何靜電電勢成像的應(yīng)用提高理想的解決方案。