TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀

塑料薄膜和薄片測厚儀-測量精度薄膜測厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張、紙板的厚度測試,、箔片、硅片、金屬片的厚度測,、試紡織材料的厚度測試,、固體電絕緣體的厚度測試,。
塑料薄膜和薄片測厚儀-測量精度產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測量面為平面時(shí),，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測量面為凸/平面時(shí),，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張、紙板的厚度測試,、箔片,、硅片、金屬片的厚度測,、試紡織材料的厚度測試,、固體電絕緣體的厚度測試。
產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測量面為平面時(shí)，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間,。
3、上下測量面為凸/平面時(shí)，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí),，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測量面為平面時(shí),，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間,。
3,、上下測量面為凸/平面時(shí),，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4,、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張,、紙板的厚度測試、箔片,、硅片、金屬片的厚度測,、試紡織材料的厚度測試,、固體電絕緣體的厚度測試。
產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測量面為平面時(shí),，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測量面為凸/平面時(shí),，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張,、紙板的厚度測試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試,、固體電絕緣體的厚度測試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測量面為平面時(shí),，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測量面為凸/平面時(shí),，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,，還可適用于紙張,、紙板的厚度測試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試,、固體電絕緣體的厚度測試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測量面為平面時(shí),，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時(shí),，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí),，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4,、測量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

合作單位：