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上海申思特自動化設(shè)備有限公司
主營產(chǎn)品： 美國E E傳感器,美國E E減壓閥,意大利ATOS阿托斯油缸,丹麥GRAS麥克風(fēng),丹麥GRAS人工頭, ASCO電磁閥,IFM易福門傳感器 |
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更新時間：2017-07-18 17:57:52瀏覽次數(shù)：1142
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美國G+F觸摸屏的光學(xué)和電子測試
通過對觸摸屏光學(xué)／電子測試技術(shù)原理的闡述,，在對觸摸屏光學(xué)／電子測試的技術(shù)進(jìn)行一定的分析后結(jié)合自身工作實(shí)踐的經(jīng)驗(yàn)提出了一些*改進(jìn)方案。此外結(jié)合我國觸摸屏企業(yè)的實(shí)際狀況,，提出了今后發(fā)展方向的一些建議,。
美國G+F觸摸屏的光學(xué)和電子測試
傳統(tǒng)個人計(jì)算機(jī)或工作站在輸入方式和界面有其先天上的限制，無法達(dá)到快速傳遞與交換信息的目的,，其原因是必須使用鍵盤或鼠標(biāo)來促成人與計(jì)算機(jī)之間的溝通,，這項(xiàng)輸入設(shè)備對不具備計(jì)算機(jī)操作技巧的人來說是項(xiàng)嚴(yán)重的進(jìn)入障礙，它使信息交流的目的大打折扣,。為滿足快速信息交流的需求,，使用非鍵盤、非鼠標(biāo)的輸入方式,，更高速直觀高效的輸入方式,，必然將大量取代人與信息設(shè)備舊有的溝通方式。非鍵盤,、非鼠標(biāo)式的輸入方法,，目前發(fā)展成熟的技術(shù)就是觸摸屏的使用。觸摸屏是當(dāng)前科技中人與機(jī)器設(shè)備溝通界面中簡單的一種，其操作方式以手指或手寫筆直接接觸面板,，接觸點(diǎn)選或手寫,，經(jīng)由內(nèi)部機(jī)構(gòu)計(jì)算出接觸點(diǎn)位置，后再計(jì)算出結(jié)果傳輸?shù)叫畔⒃O(shè)備,，達(dá)到輸入的目的,。觸摸屏的采用，降低人機(jī)溝通的障礙,，讓使用者不必再學(xué)習(xí)使用鼠標(biāo),、鍵盤或其它間接輸入方式，以直接的方式與機(jī)器設(shè)備進(jìn)行互動,，使得人人皆可利用接觸控制方式來進(jìn)行輸入,。使用觸摸屏除了可加速輸入的速度與效率外，并能吸引更多不具計(jì)算機(jī)技能者進(jìn)行資料交流,，提高信息交換的程度,，增加有效利用的機(jī)會，所以觸摸屏輸入方式將會是未來各項(xiàng)信息產(chǎn)品的主流技術(shù)之一,，這在當(dāng)前的便攜類民用LCD產(chǎn)品中已經(jīng)非常明顯。 觸摸屏由于其堅(jiān)固耐用,、反應(yīng)速度快、節(jié)省空間,、易于交流等諸多優(yōu)點(diǎn)得到大眾的認(rèn)同,。隨著針對觸摸屏技術(shù)的研究不斷的深入,，各種類型的觸摸屏陸續(xù)被開發(fā)出來,，早期的電阻式觸摸屏的不穩(wěn)定缺陷,，如易受各種機(jī)械磨損的影響和在某些環(huán)境下無法正常工作（如有射頻干擾的情況下）已經(jīng)被新的技術(shù)所克服,。隨著各種各樣新技術(shù)在觸摸屏產(chǎn)品中的引用，原先的光學(xué)和電子檢測已經(jīng)不能*當(dāng)前的需要,。筆者嘗試結(jié)合自身工作經(jīng)驗(yàn)列舉出一些當(dāng)前*光學(xué)和電子檢測方案并提出一些簡單,、易于操作的測試方案上的建議,。本文首先論述了觸摸屏技術(shù)在當(dāng)前國民經(jīng)濟(jì)中的應(yīng)用和地位，說明了觸摸屏技術(shù)研究的目的及實(shí)際應(yīng)用上的價(jià)值,。在此基礎(chǔ)上,，展開全文的闡述,，在隨后的章節(jié)中,，首先介紹了兩種主流民用類型觸摸屏（四線電阻式觸摸屏和電容式觸摸屏）的結(jié)構(gòu)和原理,，并就這兩種類型的觸摸屏詳細(xì)介紹了其制程中光學(xué)和電子測試的原理和技術(shù)。并結(jié)合本人工作中接觸的新技術(shù)和解決方案,，介紹了一些*觸摸屏技術(shù),。接著就觸摸屏電子測試中的一些結(jié)果展開了討論并提出一些改善的方案,。后結(jié)合了觸摸屏的當(dāng)前發(fā)展趨勢提出我國觸摸屏企業(yè)的發(fā)展方案建議,，希望幫助我國的企業(yè)抓住這一巨大商機(jī)，將我國的觸摸屏產(chǎn)業(yè)發(fā)展提高一臺階,。在本文第五章中,，作者通過自身在工作中的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),，就觸摸屏光學(xué)解決方案中革命性的光學(xué)透明膠（OCA）的應(yīng)用做了詳細(xì)的討論。在觸摸屏的電子測試解決方案上,，本文針對電子測試中的觸摸屏回路電阻、觸點(diǎn)測試噪聲和線性度等測試不良原因進(jìn)行了分析,，提出了改進(jìn)這些測試的解決方案,。這些解決方案均已大范圍應(yīng)用于實(shí)際生產(chǎn)中。
美國G+F觸摸屏的光學(xué)和電子測試
綜上,，本論文通過對觸摸屏從作用原理到測試技術(shù)及改進(jìn)的一系列解釋,，對觸摸屏的技術(shù)做了一個全面綜合的介紹并針對一些重要的測試技術(shù)給出了一些解決方案。同時對觸摸屏的未來發(fā)展思路和我國觸摸屏生產(chǎn)企業(yè)的發(fā)展路線給出了自己的建議,。
