產(chǎn)品簡介
詳細介紹
美國磁通I 磁粉探傷試片
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,,以提高生產(chǎn)效率,;確定磁場方向和相對的磁場強度;平衡多向磁場,。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,,用于縱向和軸向磁場,。
型號:KSC-430 標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,,試片厚度為0.004英寸,。
美國磁通I 磁粉探傷試片,,,
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