A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
簡 介：
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出,，以后為多個(gè)國家使用,，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中,，對(duì)幾何形狀復(fù)雜,，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設(shè)備,，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具,。

特 點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀，使用簡便,。對(duì)各類零件所有方向的磁場,，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn),。

性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1,、A2；A1為退火材料制成,，A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng),。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片,。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D,；適用于中靈敏度探傷,，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度,，單位為（微米）,，D為工件直徑。
本套試片包括：

1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成

使用方法：
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法,，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上,，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位,。
2,、進(jìn)行外加懸場法，對(duì)工件進(jìn)行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高,，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）,。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。

注意事項(xiàng)：
1、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好,。
2,、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

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