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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,,三豐粗糙度儀代理,,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計(jì)

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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號
  • 品牌 TaylorHobson/英國泰勒霍普森
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2024-06-05 10:32:12瀏覽次數(shù):4318

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【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車
泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,,具有測量薄膜和厚膜的功能,。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位,。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù),。
【詳細(xì)說明】

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀


一;HD適合用于制造和研究領(lǐng)域,,可測量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50納米的薄膜涂層,。

CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能,。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術(shù),。CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料,;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA,。 測量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層,。 采用這種新型方法,,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度,、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性,。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.2048 x 2048像素陣列,視場廣,,高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.適用于0.3% - 100%的表面反射率
4.<0.2?strom RMS重復(fù)性,,<0.1%臺階高度重復(fù)性
5.多語言版本的64位控制和分析軟件
6.2.2 mm垂直范圍,帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
7.AutoStitch作為標(biāo)準(zhǔn)配置,,可高分辨率測量大型零件

二:CCI MP-HS非常適合用于研究領(lǐng)域,從非常粗糙的表面到非常光滑的表面,,任何類型的表面它都能測量,,因而具備測量各種元件的能力。

無論測量的是何種元件,,無論對分析速度的要求有多高,,我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 一百萬高速相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,,無論是測量非常粗糙的表面,,還是測量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析,。CCI MP-HS大大地?cái)U(kuò)展了分析能力,,同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,,不需要進(jìn)行復(fù)雜的測量模式切換,,也不會給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān),。 通過標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和報(bào)告,,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中,。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,視場廣,,高分辨率
2.高級X,、Y、Z拼接,,擴(kuò)展量程
3.RMS重復(fù)精度<0.2 埃,,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.整合抗振,優(yōu)化抗噪性能
5.多語言版本的Windows,,64位軟件

三:CCI MP 是一種多功能的非接觸式 3D 輪廓儀,,可測量拋光表面、粗糙表面,、曲面,、平面或臺階面。

CCI MP是一種高級的測量干涉儀(非接觸式3D輪廓儀),。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。CCI MP對于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用,。 轉(zhuǎn)臺上可以同步裝配各種各樣的標(biāo)的物,,因而可測量多種類型的表面。 自動(dòng)的工作臺和自動(dòng)測量程序進(jìn)一步增強(qiáng)了測量的靈活性,。CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢就是功能多,、用途廣。 反射率為0.3%至100%的拋光表面,、粗糙表面,、曲面、平面或臺階面,,都能使用一種算法進(jìn)行測量,,不需要為不同的表面改變模式,也不用擔(dān)心會選擇錯(cuò)誤的模式,。 可測量的材料類型包括: 玻璃,、液體墨水、光刻膠,、金屬,、聚合物和糊劑。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,,視場廣,,高分辨率
2.經(jīng)過改良的新型X,、Y、Z拼接,,量程多達(dá)100毫米
3.RMS重復(fù)精度<0.2埃,,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語言版本的Windows 7,64位軟件





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