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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理,，霍梅爾Hommel |
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主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理,，霍梅爾Hommel |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2022-03-14 16:20:25瀏覽次數(shù)：1834
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車 |
在一定的厚度以上,，X射線熒光對鍍層的無損測量達(dá)到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方,。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度,，這是做相當(dāng)簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測量許多常見的單層和多層鍍層,。用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
庫侖法的成本效益高,，可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性,，因為它可以用于廣泛的鍍層組合,。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中,，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度,。
如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學(xué)電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇,。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。
高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測量
通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測量應(yīng)用
測量單元上電壓曲線的圖形顯示
圖形和統(tǒng)計評估
帶支撐架的部分自動化測量,，適用于各種樣品尺寸
全面的配件組合,，以適應(yīng)特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
同時測量鍍層厚度和電位差
根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測試
銀參比電極測量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)
電解電流可調(diào)整
可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線
電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進(jìn)廠檢驗
可以準(zhǔn)確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)
金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
單鍍層如鐵上鍍鋅
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用
STEP測試：在銅、鐵,、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國,、英國,、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),，涵蓋光學(xué)儀器,、測量儀器、無損檢測,、實驗儀器,、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備,，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn),，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo),。
