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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
EA8000日立X射線熒光分析儀規(guī)格參數(shù)：
| 測(cè)量元素 | 原子序號(hào)Mg（12)～U（92) |
|---|---|
| 樣品形狀 | 粉體、固體 |
| X射線源 | 水冷室X射線管球（透射X射線） |
| 管電壓：15,、17.5,、20 kV（透射X射線）、45 kV（熒光X射線） | |
| 管電流：1～35 mA（透射X射線）,、900 µA（熒光X射線） | |
| X射線照射方向 | 下方照射型（透射X射線） 上方照射型（熒光X射線） |
| 檢測(cè)器 | 面型圖象傳感器（透射X射線） Vortex（熒光X射線） |
| 分析區(qū)域 | 30 mmΦ（透射X射線） |
| 樣品觀察 | 高分辨率CCD攝像頭 |
| 濾波器 | 4種模式自動(dòng)切換（熒光X射線） |
| zui大樣品尺寸 | 250(W)×200(D)×0～50(H) mm |
| 儀器尺寸 | 1380(W)×1042(D)×1785(H) mm |
| 重量 | 660 kg |
| 電源/額定功率 | AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA |
EA8000X日立X射線熒光分析儀特點(diǎn)：
1. 可在幾分鐘內(nèi)對(duì)250×200 mm的樣品檢測(cè)出20 µm的金屬異物
例如要檢測(cè)250×200 mm（約B5尺寸）的電池電極板中20 µm的金屬異物,，以往的X射線透視檢查儀需要十小時(shí)左右的攝像時(shí)間,。株式會(huì)社日立*科學(xué)通過新型X射線透視方法的開發(fā)，成功縮短了時(shí)間,。檢測(cè)速度成功達(dá)到了以往的100倍以上,，可在3～10分鐘內(nèi)完成
2. 通過圖像處理自動(dòng)檢測(cè)出異物
針對(duì)快速拍攝的250×200 mm的X射線投射圖的整面進(jìn)行快速圖像處理，自動(dòng)檢測(cè)出異物點(diǎn),。
3. 對(duì)于檢測(cè)出的異物點(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)元素分析
日立EA8000X射線熒光分析儀只針對(duì)自動(dòng)檢測(cè)出的 異物點(diǎn)進(jìn)行X射線熒光掃描,，自動(dòng)分析元素。
4. 電極板中的微小金屬元素也可進(jìn)行元素識(shí)別
對(duì)于樣品中檢測(cè)出來的金屬異物,，自動(dòng)通過X射線熒光法進(jìn)行元素識(shí)別,。例如，以往在檢測(cè)電極板中可能存在的20 µm左右的微小金屬異物,，只能分析存在于樣品表面的異物,。這是由于存在于內(nèi)部時(shí)，由異物產(chǎn)生的熒光X射線會(huì)被基材所吸收,，信號(hào)強(qiáng)度非常微弱,。EA8000通過獨(dú)自研發(fā)的高能量X射線光學(xué)系統(tǒng)，可對(duì)電極,、有機(jī)薄膜內(nèi)部所含的20 µm大小的微小金屬異物進(jìn)行元素分析,。
5. 一體化操作，提高工作效率
與以往的技術(shù)相比,，金屬異物的檢測(cè)速度,、元素分析速度大幅提高，并且把顯微鏡等都組合在一臺(tái)儀器內(nèi),，各個(gè)系統(tǒng)聯(lián)動(dòng)可全自動(dòng)輸出測(cè)量結(jié)果。因此,，操作人員只需放置好樣品,，即可獲得測(cè)量結(jié)果，大大提升了作業(yè)效率,。
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