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BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀
  • BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀

貨物所在地:北京北京市

更新時(shí)間:2024-12-16 09:20:58

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BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀/熱電性能測(cè)試儀

BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀/熱電性能測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:熱電,,賽貝克系數(shù),Seebeck





BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀


當(dāng)兩種不同導(dǎo)體構(gòu)成閉合回路時(shí),,如果兩個(gè)接點(diǎn)的溫度不同,,則兩接點(diǎn)間有電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生,且在回路中有電流通過(guò),,即溫差電現(xiàn)象或塞貝克效應(yīng),。

熱電材料(也稱(chēng)溫差電材料(thermoelectric materials))是一種利用固體內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料,,熱電效應(yīng)是電流引起的可逆熱效應(yīng)和溫差引起的電效應(yīng)的總稱(chēng),,包括塞貝克(Seebeck)效應(yīng)、波爾貼(Peltier)效應(yīng)和湯姆遜(Thomson)效應(yīng),。

塞貝克系數(shù),,也稱(chēng)為塞貝克效應(yīng),,是熱電轉(zhuǎn)換領(lǐng)域中的一個(gè)核心概念,描述了在兩種不同的導(dǎo)體之間,,當(dāng)存在溫度差時(shí),,會(huì)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。塞貝克系數(shù)的數(shù)值大小直接反映了材料熱電轉(zhuǎn)換的效率,,是衡量電動(dòng)勢(shì)大小的物理量,。隨著材料科學(xué)的不斷發(fā)展,人們發(fā)現(xiàn)許多新材料具有優(yōu)異的塞貝克性能,,這為熱電轉(zhuǎn)換技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用提供了可能。

該儀器主要用于測(cè)試兩種不同電導(dǎo)體或半導(dǎo)體的溫度差異而引起兩種物質(zhì)間的電壓差,。

熱電動(dòng)勢(shì)率,,即塞貝克系數(shù)。它表示在給定溫度下熱電動(dòng)勢(shì)隨溫度的變化率,,一般用每單位溫度的電動(dòng)勢(shì)值表示,,單位名稱(chēng)為微伏每攝氏度μV/℃)。這一系數(shù)是衡量物質(zhì)熱電性質(zhì)的重要參數(shù),。

通過(guò)開(kāi)發(fā)出具有可逆雙性塞貝克系數(shù)的全固態(tài)離子熱電材料和可循環(huán)發(fā)電的離子熱電器件,,研究人員揭示了電極調(diào)控離子熱電材料P/N型的微觀機(jī)制,實(shí)現(xiàn)了在恒定溫差下連續(xù)產(chǎn)生電量,,并具有高穩(wěn)定性和循環(huán)特性,。這一成果為離子熱電轉(zhuǎn)換循環(huán)連續(xù)供電提供了關(guān)鍵技術(shù)。

二:儀器測(cè)試原理結(jié)構(gòu)圖





BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀

BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀


三:主要熱電材料體系:

Bi2Te3/Sb2Te3體系

PbTe體系

SiGe體系

CoSb3為代表的方鉆礦型熱電材料

Zn4Sb3  

四:高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)

1.可控溫場(chǎng)下可同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率,;

2.配置垂直或水平放樣結(jié)構(gòu),,滿(mǎn)足不同用戶(hù)的要求,方便樣品操作,;

3.鉑金大電極設(shè)計(jì),,與樣品充分接觸,對(duì)于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測(cè)試,;

4.可配置雙加熱系統(tǒng),,不均勻樣品的溫差控制;

5.高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù),,包括溫差和測(cè)量步進(jìn)等高級(jí)要求,;

6. 0-50K范圍的溫差可隨意設(shè)置溫差值及溫差點(diǎn)的個(gè)數(shù);

7.自由升/降溫,、可控制溫度程序,,進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過(guò)程中的數(shù)據(jù)測(cè)量,;

8.溫度檢測(cè)可選S 型熱電偶,,適合測(cè)量Si系列熱電材料(SiGe,MgSi等),;

9. 熱電偶探針可選K、S,、R型(無(wú)需鎧裝)配置,,不會(huì)產(chǎn)生非常大的接觸電阻;

10.熱電偶間距可以跟根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)或固定,,滿(mǎn)足不同科研要求,;

11:標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級(jí)商用吉時(shí)利(Keithley )數(shù)采儀表,避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差,;

12:恒流源參數(shù):0.000-220mA,;恒流設(shè)置分辨率:100nA;恒流穩(wěn)定性:0.008+20nA/天,;

13:溫度范圍:RT up to 1150℃,;

14:控溫速率:0.01 –100K/min,可以節(jié)約用戶(hù)測(cè)試時(shí)間,;

15:測(cè)量范圍:賽貝克系數(shù):0.5μV/K-25V/K,;電阻率:0.2μO(píng)hmm-2.5KOhmm;

16: 0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點(diǎn)的個(gè)數(shù),;

17:U-I曲線(xiàn)自動(dòng)掃描,,計(jì)算出合適的電流數(shù)值,可以測(cè)量電導(dǎo)率,;

不會(huì)對(duì)大電阻樣品產(chǎn)生誤差,;

18:熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定,滿(mǎn)足不同科研要求,;

19:精度:賽貝克系數(shù):±7 %,;電導(dǎo)系數(shù):±10 %(熱電材料測(cè)試,非康銅標(biāo)樣),;

20:重復(fù)性:3%,;

21:測(cè)量系統(tǒng):柱狀、片狀,、長(zhǎng)方體,、薄膜等系統(tǒng);

五:儀器主要技術(shù)參數(shù):

1:溫度范圍:RT up to 1200℃,;

2:溫度分辨率:0.001℃,;

3:控溫精度:+/-0.25K;

4:恒流源:0.000-220mA,;分辨率:100nA,;穩(wěn)定性:0.008+20nA/天,標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級(jí)商用吉時(shí)利(Keithley )數(shù)采儀表,。Keithley技術(shù): 100nV rms 噪音本底,,直流電壓靈敏度低至10nV,,基本精度為0.002%(90天)7ppm DCV可重復(fù)性,基本1年DCV準(zhǔn)確度:0.0028%

讀取速度范圍:2k讀數(shù)/秒,;

溫度分辨率:0.001℃,;

交流電壓分辨率:0.1μV

電阻分辨率:1 μΩ

電流分辨率:1nA

5:U-I曲線(xiàn)自動(dòng)掃描,計(jì)算出合適的電流數(shù)值,, 可以測(cè)量電導(dǎo)率

6:精度:賽貝克系數(shù):±7 %,;電導(dǎo)系數(shù):±10 %(熱電材料測(cè)試,非康銅標(biāo)樣)

重復(fù)性:3%

7:試樣參考大?。?*4*20-----8*8*30mm

8,、電源:220V



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