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更新時(shí)間:2024-12-13 08:56:19
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BKTEM-B2薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞:薄膜熱電,,賽貝克系數(shù),,Seebeck,四線法
為解決日益緊迫的能源危機(jī),,太陽(yáng)能,、風(fēng)能、核能等多種新能源不斷被開發(fā)利用,。新能源的使用需要優(yōu)質(zhì)的節(jié)能材料,。利用熱電材料制成的制冷和發(fā)電系統(tǒng),具有體積小,、重量輕,、無任何機(jī)械噪音、不造成任何環(huán)境污染等眾多優(yōu)點(diǎn),。因此對(duì)熱電材料的研究非常重要,。為了進(jìn)一步提高熱電材料的轉(zhuǎn)化效率(熱電優(yōu)值),對(duì)其研究從塊體慢慢轉(zhuǎn)移到薄膜材料,。
技術(shù)原理
動(dòng)態(tài)法:測(cè)量 Seebeck 系數(shù)
在待測(cè)溫場(chǎng)下給樣品兩端加一個(gè)連續(xù)變化的微小溫差,,通過記錄樣品兩端溫差和熱電勢(shì)的變化,
然后將溫差和熱電勢(shì)擬合成一條直線,,直線斜率即為該材料在該溫場(chǎng)下的 Seebeck 系數(shù),。
采用四線法測(cè)量電阻率。 硬件特點(diǎn)
? 專門針對(duì)薄膜材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率測(cè)量,。
? 采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量 Seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差,測(cè)量更準(zhǔn)確,。
? 采用四線法測(cè)量電阻率,測(cè)量更加穩(wěn)定可靠,。
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)原理
動(dòng)態(tài)法:測(cè)量 Seebeck 系數(shù)
在待測(cè)溫場(chǎng)下給樣品兩端加一個(gè)連續(xù)變化的微小溫差,,通過記錄樣品兩端溫差和熱電勢(shì)的變化,
然后將溫差和熱電勢(shì)擬合成一條直線,,直線斜率即為該材料在該溫場(chǎng)下的 Seebeck 系數(shù),。
采用四線法測(cè)量電阻率。 硬件特點(diǎn)
專門針對(duì)薄膜材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率測(cè)量,。
采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量 Seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差,測(cè)量更準(zhǔn)確,。
?采用四線法測(cè)量電阻率,測(cè)量更加穩(wěn)定可靠,。
1. 實(shí)現(xiàn)功能:在室溫溫場(chǎng)下可同步測(cè)量Seebeck系數(shù)和電阻率,;
2. 電勢(shì)測(cè)量:采集系統(tǒng)采用商業(yè)高分辨數(shù)字萬(wàn)用表;
3. 溫差測(cè)量:溫差精度控制:+/-0.1K,,控溫速率:0.02–50K/min,;溫差控制:0-80K ,;
4. Seebeck系數(shù)和電阻測(cè)量方法:Seebeck系數(shù)-靜態(tài)直流法, 多溫差法,電阻率-四端法,;
5. Seebeck系數(shù)測(cè)量范圍和分辨率:1μV/K-25V/K,;測(cè)量分辨率:10nV/K;
6. 電阻率測(cè)量范圍和分辨率:0.2μOhmm-2.5Ohmm,;測(cè)量分辨率:10nOhmm,;
7. 測(cè)量精度:Seebeck 系數(shù) : +/- 7%,電阻率 : +/- 10%,;
8. 樣品尺寸:直徑或正方形 6-12mm,,長(zhǎng)度6-22mm,正反面電極均可,;
9. 探頭測(cè)試間距:6, 8 mm,,任選一種;
10. 外接電源:?jiǎn)蜗?20V ,,50Hz,;
11. 軟件:圖形化界面, windows 菜單,,數(shù)據(jù)采集,;加熱恒溫降溫溫度程序化設(shè)計(jì);易于操作的菜單設(shè)計(jì),,測(cè)量結(jié)果可以txt,,EXC
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)