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JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)

關鍵詞：壓電系數(shù),，阻抗,，顯微鏡，高低溫

   JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)是一款多用途的綜合測試系統(tǒng),，即可用于縱向壓電D33測試,，豎向D15,橫向D31等性能測試，配置了高低溫冷熱臺,，進行變溫測試,，配置顯微鏡進行微觀觀測，也可以用于用于用于鐵電晶體,、壓電陶瓷,、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試,，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的*解決方案,，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數(shù)特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關系數(shù)，是研究壓電材料和阻抗分析的綜合設備,，是科研的重要輔助設備,。

一、產(chǎn)品應用范圍：

1.壓電材料器件科學研究

2.壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優(yōu)劣

3.壓電材料阻抗分析

4.其他介質(zhì)材料： 塑料,、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),、導電率和C-V特性

液晶單元：介電常數(shù),、彈性常數(shù)等C-V特性

5.  導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

半導體元件：LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析,；變?nèi)荻O管的C-VDC特性,； 晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

二、主要技術參數(shù)：

頻率：10HZ-30MHZ

測試電平：AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V,，分辨率：1mV

測試參數(shù)：Cp/Cs,、Lp/Ls、Rp/Rs,、|Z|,、|Y|、R,、X,、G、B,、θ,、D,、Q、Vac,、Iac,、Rdc、Vdc,、Idc

顯微鏡：630萬像素,，偏光觀察模式

薄膜平臺：30*30MM樣品臺,探針連接

×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N,，可以升級到10000PC/N.

×0.1擋： 1到200pC/N,，2 至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用

誤差：×1擋：±2%±1個數(shù)字,，當d33在100到4000pC/N,；

計量標定標準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時間：2-3年（評判壓電測試儀準確性能的重要依據(jù)之一）

提供壓電薄膜標準片：20*20MM

電壓保護：放電保護功能

±5%±1個數(shù)字,，當d33在10到200pC/N,；

×0.1擋：±2%±1個數(shù)字，(當d33在10到200pC/N)

±5%±1個數(shù)字,，當d33在10到20pC/N,。

分辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N,。

尺寸：施力裝置：Φ110×140mm,；儀器本體：240×200×80mm。