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更新時(shí)間:2024-12-20 20:01:03
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目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,,測(cè)試時(shí),,樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負(fù)載上,,通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,,無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì),,適用陶瓷,、薄膜材料,可進(jìn)行變溫下的欠,、過阻尼充放電測(cè)試,。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備,是目前高等院校和科研院所的設(shè)備,。
1,、內(nèi)置直流高壓模塊,,大電壓:10kV,20KV 多種可選,,電流:0-5mA,;
2、通過電流探頭監(jiān)測(cè)放電電流,,可達(dá)100A-200A,;
3、可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過阻尼兩種測(cè)試模式,,欠阻尼測(cè)試時(shí),,放電回路短路,不使用電阻負(fù)載,,過阻尼測(cè)試時(shí),,使用較大的高精度無感電阻作為放電負(fù)載;
4,、通過示波器采集數(shù)據(jù),,并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度;
9,、專業(yè)的載樣平臺(tái),,適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試;
10,、可以變溫測(cè)試,,0-250℃;
11,、可以疲勞測(cè)試,,飽和極化,剩余極化等功能
12,、本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān),,通過單刀雙擲控制充電和放電過程,開關(guān)可以承受10kV高壓,,寄生電容小,,動(dòng)作時(shí)間短;
二,、主要參數(shù)
1,、電流探頭帶寬:120MHz
2、峰值電流:0-100A,,150 A(多種電流可監(jiān)測(cè))
3,、電流采集精度:1mA
4、高壓源模塊:3KV,,5KV,, 10kV,15KV多可選(電流:0-5mA)
5,、開關(guān)適用:100萬次,,耐壓15kV。
6,、溫控范圍:0-250℃,。
7、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃
8,、測(cè)試樣品:薄膜,,厚膜,陶瓷,,玻璃等
9,、可以疲勞測(cè)試,飽和極化,,剩余極化等多種參數(shù)測(cè)試
10,、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試
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