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BKTEM-D1熱電性能分析系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：熱電材料,，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率,， 電阻率,，V-1裝置

產(chǎn)品介紹：

   BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是我國熱電材料的設(shè)備，是國家材料計(jì)

劃中zui前沿裝備,，是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來的熱電材料

測試儀,，其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材

料同時(shí)也可以用于薄材料的測試,，是目前國內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)

備,。

對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù),。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導(dǎo)體材料,、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度,，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成,。通過PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式精確測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,、電阻率,。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

一,、適用范圍：

1,、精確地測定半導(dǎo)體材料,、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅,、鎳、鎢等金屬,，Te,、Bi2Te3、ZrNiSn,、ZnAgSb,、NiMoSb、SnTe,、FeNbSb,、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS,、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,、電阻率。

3,、塊體和薄膜材料測均可以測試,。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出,。

5,、擁有自身分析軟件，獨(dú)立分析,，過程自動(dòng)控制,，界面友好。

6,、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位,。

7、汽車和燃油,、能源利用效率,、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8,、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.

二,、技術(shù)特點(diǎn)：

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性,。

• 溫度檢測可采用J,、K型熱電偶，降低測試成本,。
  •  
• 每次可測試1-3個(gè)樣品.
• 采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率,。

三：主要技術(shù)：

測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時(shí)測試樣品數(shù)量：1個(gè),，2個(gè)，3個(gè) 可選

控溫精度：0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃）

測量原理：塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電,；電阻系數(shù)：四端法

測量范圍：塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K,；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm

測量精度：塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％

樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長,，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm

電   流: 0 to 200 Ma

氣   氛：0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：單相,，220V，

夾具接觸熱阻：≤0.05 m²K/W

溫度檢測：采用J,、K型熱電偶