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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測(cè)試儀>>材料電阻測(cè)試儀>> HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)
  • HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)
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  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2024-10-22 07:46:27瀏覽次數(shù):675評(píng)價(jià)

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HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量材料電阻,,電導(dǎo)率的專用設(shè)備,,采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的專用的高溫測(cè)試系統(tǒng),,滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求,,通以在高溫 、真空,、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片,、方塊,、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳

HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:電導(dǎo)率,,電阻率,,高溫600℃,兩探針,,四探針

HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

     HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量材料電阻,,電導(dǎo)率的專用設(shè)備,采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的專用的高溫測(cè)試系統(tǒng),,滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求,,通以在高溫  、真空,、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片,、方塊,、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳系導(dǎo)電材料,、 金屬系導(dǎo)電材料,、 金屬氧化物系導(dǎo)電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導(dǎo)電材料,、復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量,。 測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線,。

 

 

一,、主要應(yīng)用范圍:

1、  廣泛用于碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

2,、  金屬系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

3,、  金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

4、  高分子導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

5,、  復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量

6,、  可以測(cè)量硅、鍺單晶(棒料,、晶片)電阻率

7,、  符合標(biāo)準(zhǔn):ASTM B193-02和GBT 6146-2010 、GBT15662-1995

8,、  產(chǎn)品主要特點(diǎn):

1,、高溫兩探針夾具與帶升降高溫測(cè)試平臺(tái)配合使用,組成高溫兩探針測(cè)試平臺(tái),;

2測(cè)溫?zé)犭娕继筋^與樣品平臺(tái)為同一熱沉,,確保測(cè)量溫度與樣品溫度的一致性;

 

3,、采用緊湊型設(shè)計(jì),,體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,,操作簡(jiǎn)單,、方便;

4' 隔熱盤(pán)隔離樣品平臺(tái)與調(diào)節(jié)平臺(tái),,并與高溫測(cè)試平臺(tái)重合,具有理想的隔熱保溫效果,;

5,、  探針調(diào)節(jié)裝置具有三維精確調(diào)節(jié)功能,精確定位探針的位置,;

6,、  探針調(diào)節(jié)裝置具有粗調(diào)功能,有效增大探針的調(diào)節(jié)范圍,;

7,、  探針調(diào)節(jié)裝置帶探針壓力調(diào)節(jié)功能,確保探針與樣品的良好接觸,,又不損傷樣品,;

8、  探針采用帶同軸屏蔽層設(shè)計(jì),減少電磁對(duì)測(cè)量的干擾,;

9,、探針電極選用鉑銥合金,有效減少接觸電阻,,并具有良好的高溫抗氧化能力,;

10、自帶校準(zhǔn)件,,與各測(cè)試儀器配套,,校準(zhǔn)測(cè)試夾具。

 

主要技術(shù)參數(shù):

1,、測(cè)量溫度范圍:RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可選

2,、測(cè)試探針:     2個(gè)高溫高頻探針或4個(gè)高頻探針

3、電極直徑:26.8mm

4,、樣品大?。汉穸刃∮?0 mm,直徑5~40mm

5,、溫控方式:恒溫,、變溫、常溫

6,、控溫精度:±0.4℃

7,、電阻率:10nΩ-10MΩ

8、電阻:10nΩ-100MΩ

9,、電導(dǎo)率:10-5 ~105 s/cm

10,、重量:38KG

11、工作溫度:5℃至40℃

12,、重量:15KG

13,、可以配合任意型號(hào)Agilent 、 WayneKer r ,、 So lar tron ,、 同惠、 Keysight

LCR表進(jìn)行無(wú)縫結(jié)合

14,、設(shè)備可以配合ZJ-3型和ZJ-6型壓電測(cè)試儀進(jìn)行壓電D33系數(shù)測(cè)量

 


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