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BKTEM-B2薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：薄膜熱電,，賽貝克系數(shù)，Seebeck,，四線法

為解決日益緊迫的能源危機,，太陽能,、風能、核能等多種新能源不斷被開發(fā)利用,。新能源的使用需要優(yōu)質(zhì)的節(jié)能材料,。利用熱電材料制成的制冷和發(fā)電系統(tǒng)，具有體積小,、重量輕、無任何機械噪音,、不造成任何環(huán)境污染等眾多優(yōu)點,。因此對熱電材料的研究非常重要,。為了進一步提高熱電材料的轉(zhuǎn)化效率（熱電優(yōu)值），對其研究從塊體慢慢轉(zhuǎn)移到薄膜材料,。

技術(shù)原理

動態(tài)法：測量 Seebeck 系數(shù)

在待測溫場下給樣品兩端加一個連續(xù)變化的微小溫差,，通過記錄樣品兩端溫差和熱電勢的變化，

然后將溫差和熱電勢擬合成一條直線,，直線斜率即為該材料在該溫場下的 Seebeck 系數(shù),。

采用四線法測量電阻率。 硬件特點

? 專門針對薄膜材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率測量,。

? 采用動態(tài)法測量 Seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準確。

? 采用四線法測量電阻率,，測量更加穩(wěn)定可靠。

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)

技術(shù)原理

動態(tài)法：測量 Seebeck 系數(shù)

在待測溫場下給樣品兩端加一個連續(xù)變化的微小溫差,，通過記錄樣品兩端溫差和熱電勢的變化，

然后將溫差和熱電勢擬合成一條直線,，直線斜率即為該材料在該溫場下的 Seebeck 系數(shù),。

采用四線法測量電阻率。 硬件特點

專門針對薄膜材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率測量,。

采用動態(tài)法測量 Seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準確。

?采用四線法測量電阻率,，測量更加穩(wěn)定可靠。

1. 實現(xiàn)功能：在室溫溫場下可同步測量Seebeck系數(shù)和電阻率,；

2. 電勢測量：采集系統(tǒng)采用商業(yè)高分辨數(shù)字萬用表,；

3. 溫差測量：溫差精度控制：+/-0.1K，控溫速率：0.02–50K/min,；溫差控制：0-80K ,；

4. Seebeck系數(shù)和電阻測量方法：Seebeck系數(shù)-靜態(tài)直流法, 多溫差法，電阻率-四端法,；

5. Seebeck系數(shù)測量范圍和分辨率：1μV/K-25V/K；測量分辨率：10nV/K,；

6. 電阻率測量范圍和分辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；測量分辨率：10nOhmm,；

7. 測量精度：Seebeck 系數(shù) : +/- 7%，電阻率 : +/- 10%,；

8. 樣品尺寸：直徑或正方形 6-12mm,，長度6-22mm,，正反面電極均可；

9. 探頭測試間距：6, 8 mm,，任選一種；

10. 外接電源：單相220V ,，50Hz；

11. 軟件：圖形化界面,， windows 菜單,，數(shù)據(jù)采集,；加熱恒溫降溫溫度程序化設(shè)計；易于操作的菜單設(shè)計,，測量結(jié)果可以txt，EXC