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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>柔性材料測(cè)試系統(tǒng)>>薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀>> BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀

BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 其他品牌
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  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2024-11-06 14:28:23瀏覽次數(shù):1188評(píng)價(jià)

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BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測(cè)試儀是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀,、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置,,也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用,。不僅可測(cè)試薄膜體電阻,而且可以測(cè)試薄膜的表面電阻,,是壓電材料薄膜測(cè)試參數(shù)的重要設(shè)備,是國(guó)內(nèi)高校研究PVDF薄膜材料的重要設(shè)備,,也是材料學(xué)院的重要研究設(shè)備之一。

 

BMDZ-4PVDF薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:PVDF,,薄膜,,電阻,表面電阻,,體電阻

 

     

薄膜電阻測(cè)試儀.jpg

                                         

 

BMDZ-4PVDF薄膜電阻測(cè)試儀是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀,、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置,,也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用,。不僅可測(cè)試薄膜體電阻,而且可以測(cè)試薄膜的表面電阻,,是壓電材料薄膜測(cè)試參數(shù)的重要設(shè)備,是國(guó)內(nèi)高校研究PVDF薄膜材料的重要設(shè)備,,也是材料學(xué)院的重要研究設(shè)備之一。

 

一,、符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 3389-2008 壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法

 GB/T 14102006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。二,、 產(chǎn)品用途:

1,、PVDF薄膜材料表面電阻及體電阻

2、壓電陶瓷材料表面電阻及體電阻

3,、PVDF薄膜材料表面的微電流測(cè)試

                        

三,、主要特點(diǎn):

1、數(shù)字化操作,,參數(shù)自由設(shè)定,、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸出,操作簡(jiǎn)便,、性能穩(wěn)定,。

2、自動(dòng)化測(cè)試過程,,電壓,、電流量程轉(zhuǎn)換,,全部數(shù)字化轉(zhuǎn)換。

3,、多窗口顯示體積電阻率,、表面電阻測(cè)試結(jié)果,電壓,、測(cè)試電流測(cè)試條件,,以及設(shè)定修正系數(shù),內(nèi)容全面,。

4,、測(cè)試安全保護(hù),測(cè)試高壓獨(dú)立操作開關(guān),,測(cè)試電流過流保護(hù),。

5、便于功能拓展,,選配薄膜測(cè)試探頭,,可以測(cè)試高阻薄膜,選配夾具可以當(dāng)高阻計(jì)和微電流表使用,。也可測(cè)試高阻液態(tài)電阻率,。

三、測(cè)量范圍

電阻范圍:  1.0×10^2 2.0×10^14 Ω,     

分辨率0.01×10^3 0.01×10^14 Ω

電阻率范圍:  Kv×( 1.0×10^2 2.0×10^14) Ω-cm,  

分辨率0.01×10^3 0.01×10^14 Ω-m,, K=11000,,修正系數(shù))

精度:±0.01

選配:可以配合ZJ-3/6PVDF壓電測(cè)試儀進(jìn)行薄膜D33系數(shù)測(cè)試

工作電源:220V±10, f=50Hz±4,PW≤20W

外形尺寸: W×H×L=40cm×15cm×35cm

重量:≤4kg


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