GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測試D33系數(shù),，又可以高溫測試D33系數(shù),。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。

二,、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無損檢測超聲檢測,，醫(yī)療超聲檢測，航空航天,，石油天然器,，汽車物聯(lián)網(wǎng)，工業(yè)

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

1,、d33測量范圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2,、力顯示：0.01-4N

3、電源：電壓220V

4,、溫度范圍：溫度-100℃至+500℃

5,、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃，溫度控制精度±0.1℃,，溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi),，超調(diào)≤0.1℃。

6,、升溫斜率：0.00至5.00℃/min,，典型值2.00℃/min。

7,、間隔保溫：0.10至50.00℃/點,，保溫5分鐘即可達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。  

8,、樣品夾具：夾持雙面電極樣品,，直徑小于30mm，厚度小于5mm,。

9,、測量環(huán)境：低溫、高溫,、空氣等,。

10、電極材料：耐高溫電極,。

11,、制冷方式：液氮控制系統(tǒng)

12、顯示：液晶顯示

13,、采集方式：USB2.0高速數(shù)據(jù)

14,、總重量: 15kg左右。

15,、軟件：專用軟件自動測試溫度與壓電系數(shù)的關(guān)系變化

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng),，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng),。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試，而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高,，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助,，該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps,、剩余極化Pr,、矯頑場Ec、漏電流,、疲勞,、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測試,。

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

1.輸出信號電壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號頻率：0.2到100Hz（陶瓷,、單晶），1到1kHz(薄膜）

3.電容范圍：電流0到±6mA（陶瓷,、單晶）,，±50mA(薄膜）連續(xù)可調(diào),精度: ≤1%。

4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%,。

5,、溫度測量范圍:0-200℃

6. 匹配高溫電致應(yīng)變測試模塊、夾具及自動采集軟件,。

7.測試速度：測量時間《5秒/樣品•溫度點

8. 樣品規(guī)格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm,，薄膜：直徑：1-60mm

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件： 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr,、矯頑場Ec,、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試,，電阻測量,，漏電流測量。

10,、控制方式：計算機(jī)實時控制,、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算,、分析與存儲

11,、軟件采集：自動采集軟件，分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件,。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：高溫介電,，

GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)（2019款）高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料,、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析,，通過配置不同的測試設(shè)備,，完成不同參數(shù)的測試。是高溫介電測試系統(tǒng)測試裝置,，是國家科研院所和高等學(xué)府的重要材料測試設(shè)備,。

一、主要用途：

1,、測量以下參數(shù)隨溫度（T）,、頻率（f）、電平（V）,、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2,、測量電容（C）、電感（L）,、電阻（R）,、電抗（X）、阻抗（Z）,、相位角（￠）,、電導(dǎo)（G）、電納（B）,、導(dǎo)納（Y）,、損耗因子（D）、品質(zhì)因素（Q）等參數(shù),，

3,、同時計算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)（εr）和介質(zhì)損耗（D）參數(shù),。

4,、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5,、可以根據(jù)用戶需求,，定制開發(fā)居里溫度點Tc、機(jī)電耦合系數(shù)Kp,、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測量與分析,。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制,、樣品安裝于一體,；具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點。

二,、主要技術(shù)參數(shù)：

主要技術(shù)參數(shù)：

1,、溫度范圍： 室溫-1000℃

2、測溫精度：   0.1℃

3．升溫速度：   1—20℃/min

4,、控溫模式： 程序控制,，提供常溫、變溫,、恒溫,、升溫、降溫等多種組合方式

5,、通訊接口：   RS-485

8,、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極,，引線帶同軸屏蔽層

10,、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11,、保護(hù)電極：  帶保護(hù)電極,，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12,、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,，樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動控制,，可更換夾具的電動升降裝置

14,、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

15,、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm,，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm,，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù),，可以分類保存,，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案,，輸出TXT,、XLS、BMP等格式文件

18,、測量方案：    提供靈活,、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜,、介電譜及其組合

19,、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進(jìn)行測量

21,、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM,，20MM，30MM,，40MM壓片夾具

23,、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25,、分辨率：1MHZ

26,、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù)：Cp/Cs,、Lp/Ls,、Rp/Rs、|Z|,、|Y|,、R、X,、G,、B、θ,、D,、Q、Vac,、Iac,、Rdc、Vdc,、Idc

28,、基本準(zhǔn)確度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30,、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量

31,、接口方式:   RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀主要技術(shù)參數(shù)

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：電阻率，體電阻,，表面電阻,，CNAS

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備,，該儀器采用使用方法多樣化,，2000V,，6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測量,，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,，自行設(shè)計的懸浮式電路,，能不受測量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測量，并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量,?？蓪崿F(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計開發(fā)，可以直接測量高溫,、真空,、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度,、時間變化的曲線,，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一,、主要用途：適用于新材料評估的特性:

1,、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗

2、貼片電容的IR測量

3,、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測量

4,、光伏電池薄膜的絕緣測量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測量

6,、液晶設(shè)備的絕緣測量

7,、涂層（涂料）的表面電阻率測量

8、外殼的帶電度的測量

9,、二極管的微笑泄漏電流測量

10,、光電耦合器的初級/次級絕緣（高電阻）測量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測量

12,、用于針對半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評估試驗

13,、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī),、自動化設(shè)備中

一,、產(chǎn)品特點：

1、多種使用方法的超絕緣計,提供CNAS計量合格證書

2,、能夠作為IR表、靜電計等高電阻計,，以及作為皮安表這種微小電流計來使用,，使用方法非常豐富的測量儀器。

2、能不受測量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測量,，并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量2000V輸出

3,、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合,，大幅提高抗噪音性能,。

4、輸出電壓從0.1V到1000V,，能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5,、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預(yù)充電功能的組合可以實現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5,、高溫爐膛,，耐高溫、抗氧化的測試夾具,提供CNAS計量合格證書

二,、主要技術(shù)參數(shù)：

1,、體積電阻率和表面電阻率測試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2,、測試電壓：10V,、50V、100V,、250V,、500V、1000V

3,、電極材質(zhì)：600℃不氧化,，三電極尺寸為25mm（被保護(hù)電極直徑）、38mm（保護(hù)電極內(nèi)徑）,、50mm（保護(hù)電極外徑）,，樣品厚度在3mm以內(nèi)；

3,、測量精度：①電阻≤1010Ω時,，精度±5％；電阻>1010Ω時,，精度±10%,；②電壓＜100V時，精度±5%,，電壓≥100V時,，精度±2％；

2,、溫度范圍;室溫~600℃,；

3,、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃,，溫度＞300℃,，精度±2℃；控溫設(shè)備需有測溫口,；（能夠通過計量CNAS認(rèn)證）

4,、測試軟件：①可設(shè)置連續(xù)升溫測試，得到不同溫度下體積電阻率,、表面電阻率具體值,，直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線,；

5,、溫度精度：可設(shè)置在某一具體溫度點測試，得到體積電阻率,、表面電阻率在不同時間點的具體值,，直接得到體積電阻率-時間曲線、表面電阻率-時間曲線,；

5,、電腦要求：windows10 系統(tǒng)，內(nèi)存16G以上,，CPU四核,；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計量要求）,；

7,、能通氮氣，測試時在高溫和氮氣環(huán)境下測試,；

9,、符合GB/T31838、GB/T10581,、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn),；

10、排氣口有過濾裝置,；

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：電阻率,，導(dǎo)電，合金高溫

電阻率表征技術(shù)是典型的金屬,、合金相變行為研究手段,，比如在先進(jìn)鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學(xué)研究,、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面,。電阻率對這些相變行為則非常敏感,，應(yīng)用電阻率手段研究合金析出動力學(xué)行為也是非常重要的手段，是一種可以對合金時效析出過程全時段實現(xiàn)監(jiān)控的手段,。同時，通過電阻率的演化規(guī)律,，可以清晰的判斷GP區(qū),、析出孕育時間、析出結(jié)束（析出量大）和熟化過程等不同的階段,。對于所有析出強(qiáng)化合金,，電阻率數(shù)據(jù)都可以提供重要的工藝指導(dǎo)。此外,，預(yù)相變過程中出現(xiàn)納米疇并導(dǎo)致模量軟化和弛豫內(nèi)耗行為,，特別是在相變初期，用電鏡觀察很難實現(xiàn),，而納米疇的出現(xiàn)卻表現(xiàn)為電阻率的升高,，因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現(xiàn)的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源,、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,，上位機(jī)智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲分析儀器,。測試金屬樣品根據(jù)測試工藝要求任意設(shè)定加熱,、降溫曲線，通過過程中電阻率的精密測量,，完成對金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變,、碳化物、固溶度等特性的分析,。

一,、用途：

1、棒材,、管材,、異型材金屬導(dǎo)電性能測量

2、金屬材料研究

3,、碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測量

4,、金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測量

5、石墨烯金屬材料的導(dǎo)電性能測試

二,、器成套組成： 

1.溫度控制箱：任意設(shè)定多段加熱,、保溫曲線，加熱范圍:室溫至1000℃,?？販鼐?plusmn;1oC,。

2.真空加熱爐管：采用石英真空管實現(xiàn)真空密閉狀態(tài)，達(dá)到6*10-2Pa,。

3.控制信號盒：高精度的恒流源200uA-10mA,通過計算機(jī)通信控制實現(xiàn)連續(xù)可調(diào)（或定制）,，測量到1uΩ。

4.計算機(jī)：通信控制溫控儀加熱曲線,，實時接收當(dāng)前溫度值并存儲顯示,。結(jié)合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時存儲過程的測試條件信息,，測試過程的數(shù)據(jù),。完成數(shù)據(jù)庫的基本管理、查詢,、打印等功能,。

5.   低溫裝置：低溫實驗可延伸-150℃，完成高低溫實驗功能,。

6.   app遠(yuǎn)程監(jiān)控：手機(jī)app完成對實驗設(shè)備主要參數(shù)的監(jiān)控,，不必守在爐子旁邊也能了解實驗?zāi)壳暗臓顟B(tài)。 

7.適用于科研單位,、高等院校對金屬材料的導(dǎo)電性能,、微結(jié)構(gòu)變化、相變信息等測試,。

三,、基本技術(shù)參數(shù)

1、控溫范圍,；-150 ℃-1000 ℃,，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃

2,、測量范圍：電  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ,， 分辨率：1×10-7Ω

電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8

3,、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4,、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5,、夾具：針對不同的樣品可以設(shè)計不同的夾具

6,、外形尺寸：主   機(jī)  1300mm（長）×800 mm（寬）×500mm（高）

7、凈   重：≤60kg

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀以測定半導(dǎo)體材料,、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率.

應(yīng)用范圍：1,、可測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳,、鎢等金屬,，Te、Bi2Te3,、ZrNiSn,、ZnAgSb、NiMoSb,、SnTe,、FeNbSb、CuGaTe2,、GeTe、Ag1-xCuS,、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,、電阻率。

3,、塊體和薄膜材料測均可以測試,。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,。

5,、擁有自分析軟件，獨立分析,，過程自動控制,，界面友好。

6,、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位,。

7、汽車和燃油,、能源利用效率,、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
  8,、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)要求

測量溫度：   室溫-600℃

同時測試樣品數(shù)量：  1個

測量功能：   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率

控溫精度：   0.5K

測量原理：   塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電,；電阻系數(shù)：四端法

測量精度：   塞貝克系數(shù)：＜±7％；電阻系數(shù)：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長,，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距:  ≥6 mm

電   流,； 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：        單相，220V,，

 WLDR-1000型激光導(dǎo)熱測試儀

WLDR-1000型激光導(dǎo)熱測試儀是中科院物理所研發(fā)的一款采用一束激光照射樣品,，用紅外檢測器測量樣品背面溫度的升高，是一種快速的非接觸式測量熱導(dǎo)率的儀器。來計算樣品的熱擴(kuò)散系數(shù),。具有快速,、方便的特點。其測量熱擴(kuò)散系數(shù)為0.001...10cm2/sec, 并可測量樣品的比熱,，進(jìn)一步計算導(dǎo)熱系數(shù),。激光導(dǎo)熱儀適用于絕大多數(shù)材料導(dǎo)熱性能的測試，絕熱材料除外,。激光導(dǎo)熱儀尤其適用于高導(dǎo)熱材料和高溫下的導(dǎo)熱性能的測試,，廣泛應(yīng)用于材料、汽車,、航天,、電子、化工,、能源等領(lǐng)域,，是目前生產(chǎn)單位和高等院校的重要科研設(shè)備。

一,、產(chǎn)品符合：GJB 1201.1-91固體材料高溫?zé)釘U(kuò)散率試驗方法激光脈沖法

ASTMD   1461 閃光法測定熱擴(kuò)散系數(shù)

ASTM   E2585 用閃光法測量熱擴(kuò)散率

GBT   22588 閃光法測量熱擴(kuò)散系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)

二,、主要特點：

1、消除了樣品外緣的干擾信號,，可大大提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度,。

2、數(shù)據(jù)采集速率,，極窄的光脈沖寬度,，允許測量薄的高導(dǎo)熱的材料

3、多種數(shù)學(xué)模型擬合,，精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分,，熱損耗修正，內(nèi)置數(shù)據(jù)庫

4,、能實現(xiàn)真空測量和保護(hù)氣氛測量兩種模式

5,、使用紅外檢測器，進(jìn)行非接觸式的樣品表面溫升信號測試

6,、可進(jìn)行多層接觸熱阻分析,，并計算熱阻、熱擴(kuò)散速率等參數(shù),，使用已知比熱的標(biāo)樣,、通過比較法可計算比熱；

二,、主要技術(shù)性能

1,、溫度范圍：室溫~500℃，600℃，1000℃,。（超低溫需要定制）

2,、導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍：0.1～300W/mK， 1～500W/mK,，10～1000W/mK,；

3、熱擴(kuò)散系數(shù)范圍：0.01～1000mm2/s,；

4,、Cp重復(fù)性：±3% (多數(shù)材料)

5、熱擴(kuò)散系數(shù)重復(fù)性：±2 (多數(shù)材料)

6,、試樣測試范圍：方形≥10×10mm,，圓形：φ12～20（另可選20特殊規(guī)格），厚度0.1～10mm,；（最佳厚度：3mm）

7,、脈沖能量：15J/次，脈沖能量及間隔可調(diào)

8,、傳感器類型：Insb/MCT,風(fēng)冷

9、信號探測方式：紅外檢測器進(jìn)行非接觸式的樣品表面溫升信號測試,；

10,、試樣測試范圍：方形不小于10×10mm，圓形φ12～20（另可選20特殊規(guī)格）,，厚度0.1～10mm,；盡量選3mm厚的樣；

11,、測試樣品種類：固體塊狀,、低粘度液體、高粘度液體,、粘性半固體,、彈性固體、薄膜等均可適應(yīng),，固體粉末需特需定制,；

12、測試樣品通道：單通道

13,、氣氛：能實現(xiàn)真空測量和保護(hù)氣氛測量兩種模式（氣氛：惰性,、氧化、還原,、靜態(tài),、動態(tài)），標(biāo)配為常溫常壓空氣環(huán)境；

14,、軟件功能：可進(jìn)行多層接觸熱阻分析,，并計算熱阻、熱擴(kuò)散速率等參數(shù),，使用已知比熱的標(biāo)樣,、通過比較法可計算比熱；

15,、可連接計算機(jī)實現(xiàn)全自動控制,，中文操作界面，自動打印試驗報告,；

16,、多種數(shù)學(xué)模型擬合，精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分,，熱損耗修正,，內(nèi)置數(shù)據(jù)庫。

17,、設(shè)備尺寸：120*110*125CM

18,、重量：80KG