JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測試探針臺。其結(jié)構(gòu)緊湊,，設(shè)計精密,，價格實惠，配置靈活,，高性價比,。在高等院校教學(xué)和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應(yīng)的儀器儀表,，用于測試各類器件的IV,、CV、l-t,、V-t,光電信號,，1/f噪聲測試，器件表征測試,，RF射頻等,。如果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺,。
JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強(qiáng)型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學(xué)測試,。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結(jié)構(gòu),，顯微鏡可X-Y-Z方向進(jìn)行精密位移調(diào)節(jié)?？ūP具備上下調(diào)節(jié)功能,可以使探針與 樣品快速分離,，提高測試效率，在科研單位和半導(dǎo)體工廠都得到了運用,，配合對應(yīng)的儀器儀表,可以完 成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓LED/LCD/太陽能電池行業(yè)的測試,。此系列探針臺可以實現(xiàn)1μm以上的Pad電極測試。
JKZC-DH系列探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺,，最大可完成12英寸晶圓的電學(xué)測試,。此系列探針臺設(shè)備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結(jié)構(gòu)和卡盤的升降功能,，還具備探針臺卡盤快速移動技術(shù),，可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離,，同時也方便探針卡的使用,。此設(shè)備在大型實驗室或者半導(dǎo)體工廠得到廣泛運用,，配合對應(yīng)的儀器儀表,，可以完成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓/LED/LC- D/太陽能電池行業(yè)的測試。此系列探針臺可以實現(xiàn)1μm以上的Pad電極測試,也可以實現(xiàn)搭載探針卡的測 試,。
JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺,，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎(chǔ)上,可用于晶圓和PCB板的測試,，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試,，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富,。該定制探針臺具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng),，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué),，以及多項升級功能,。此設(shè)備在激光器,LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長測試等 方面得到了廣泛運用。如果您的產(chǎn)品也有雙面點針,或者背面點針的需求,，此款產(chǎn)品,。
JKZC-UC系列探針臺是一款在非真空條件下實現(xiàn)低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機(jī)制冷 ,自動控溫,，設(shè)備配置非常豐富,。自帶屏蔽暗室,，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜,。此設(shè)備對于一些有溫度需求的測試,，尤其是低溫，運用非常廣泛,。
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號的設(shè)備,。可以實現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試,，射頻測試,，光電測試等。通過液氮或者壓縮機(jī)制冷,，可以在防輻射屏內(nèi)營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境,。在特殊材料，半導(dǎo)體器件等研究方向具有廣泛運用,。
極低溫測試:因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時,，空氣中的水汽會凝結(jié)在晶圓上，會導(dǎo)致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗,。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測試前用泵抽走,，并且保持整個測試過程 泵的運轉(zhuǎn)。
高溫?zé)o氧化測試:當(dāng)晶圓加熱至300°C,400°C,500°C甚至更高溫度時,，氧化現(xiàn)象會越來越明顯,，并且溫度越 高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會導(dǎo)致晶圓電性誤差,，物理和機(jī)械形變,。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉(zhuǎn)。
我公司還生產(chǎn)各種非標(biāo)準(zhǔn)探針臺,。
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