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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限...

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BKTEM-Dx熱電材料塞貝克系數(shù)測(cè)試儀

閱讀:767      發(fā)布時(shí)間:2017-06-07
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BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀,,熱電材料克系數(shù)測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),,電導(dǎo)率,,電阻率,n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效

產(chǎn)品介紹:

 BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的設(shè)備,,是國(guó)家材料計(jì)

劃中zui前沿裝備,,是我國(guó)科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來(lái)的熱電材料

測(cè)試儀,其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀,,特別是其對(duì)熱電材料π對(duì)

與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,,用于測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的

n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率,。(國(guó)內(nèi)外*,。

對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù),。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測(cè)定半導(dǎo)體材料,、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成,。通過(guò)PID程序控溫,,采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率,。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出,。

一、測(cè)試原理

原理:(1)通過(guò)測(cè)量派對(duì)或器件開(kāi)路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的zui大輸出功率,。(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測(cè)量通過(guò)熱電派對(duì)或器件的熱流量,其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是:當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí),,其一端降溫一端升溫,,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),,利用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的通過(guò)熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量,,即為通過(guò)派對(duì)或器件的熱流。(3)將zui大輸出功率與通過(guò)的熱流相比求得zui大轉(zhuǎn)換效率,。

一,、適用范圍:

1、碲化鉍類,、碲化鉛類,、碲化鍺類、方鈷礦類,、電子晶體-聲子玻璃類,、納米超晶格類、功能梯度類,、Half-Heusler類熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,,用于測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率,。(國(guó)內(nèi)外*)

2,、地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅,、鎳,、鎢等金屬,Te,、Bi2Te3,、ZrNiSn、ZnAgSb,、NiMoSb,、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2,、GeTe,、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,、電阻率,。

3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出,。

4,、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,,過(guò)程自動(dòng)控制,,界面友好。

二,、技術(shù)特點(diǎn):

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題,,靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

·熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,,用于測(cè)試,、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的np型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

  • 溫度檢測(cè)可采用J,、K型熱電偶,,降低測(cè)試成本。
    •  
  • 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.
  • 采用數(shù)據(jù)采集技術(shù),,避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差,,可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。
  • 具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng),。

四,、主要技術(shù)參數(shù):

 

BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

測(cè)量溫度

室溫-600℃

室溫-600℃

室溫-600℃

同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量

1個(gè)

2個(gè)

3個(gè)

控溫精度

0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃)

熱流量測(cè)量

采用溫差電熱流計(jì)測(cè)量流經(jīng)試樣卻沒(méi)有被轉(zhuǎn)換的熱流

測(cè)量原理

塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測(cè)量范圍

塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K,;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率

塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm

測(cè)量精度

塞貝克系數(shù):<±6%,;電阻系數(shù):<±5%

樣品尺寸

方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)

熱電偶導(dǎo)距

≥6 mm

  

0 to 160 mA

  

減壓He(具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng),真空工況下,,真空度:≤6×10-2 Pa,;)

加熱電極相數(shù)/電壓

單相,220V,,

熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率

0.01?W~10W

夾具接觸熱阻

≤0.05 m2K/W,,夾具界面石墨或Ag化處理

 

 

 

 

 

 

 

 

圖1 單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

 

 

 

 

 

 

 

圖2 雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

提供商

北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

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