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DL10-ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料,、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜）,，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
表面電阻測量儀方塊電阻量值檢測儀 方塊電阻測試儀 導(dǎo)體材料導(dǎo)電薄膜電阻檢測儀 半導(dǎo)體薄層電阻測定儀
型號AODD-ST-21
DL10-ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻,。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路,；并配以大型LCD顯示讀數(shù),，使儀器具有體積小、重量輕,、外形美,、易操作、測量速度快,、精度高的特點,。
特點：
1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量穩(wěn)定,，低功耗,；
2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰,；
3采用單個電池供電,，帶電池欠壓指示；
4體積≤175mmX90mmX42mm,，重量≤300g,；
5特制之手握式探筆，球形探針,、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6探頭帶抗靜電模塊
技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1.方塊電阻1.00～199.99Ω/□,；
2.方塊電阻10.0～1999.9Ω/□；
恒流源測量過程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉(zhuǎn)換器量程：0～199.99mv,；
分辨率：10μv,；
方式：LCD大屏幕顯示；極性,，超量程均自動顯示,；小數(shù)點同步顯示；
測量不確定度在整個量程范圍內(nèi),，測量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格間距：1mm,、1.59mm、3.8mm,；偏差≤2%,；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源9V疊層電池1節(jié)
DL10-ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格： | |||||||||||||||||||||||||
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DL10-ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規(guī)格： | |||||||||||||||||||||||||
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