手持光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,,產(chǎn)生一次光電子,,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發(fā)生效應,,亦稱次級光電效應或無輻射效應,。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,,而是以光子形式放出,,便產(chǎn)生X射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差,。
奧林巴斯手持熒光光譜儀|常見的兩種熒光光譜儀技術(shù)原理
X熒光光譜主要是激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng),。
其原理是:X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)來刺激被測樣品。受刺激樣品中的每個元素都會輻射出二次X射線(也稱為X熒光),,不同元素輻射的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性,。探測系統(tǒng)測量二次X射線的能量、數(shù)量或波長,。然后,,儀器軟件將探測系統(tǒng)收集到的信息轉(zhuǎn)換為樣品中各種元素的類型和含量。元素的原子受到高能輻射的刺激,,導致內(nèi)部電子的跳躍,,并發(fā)射出具有一定特殊波長的X射線。因此,,只要測量熒光X射線的波長或能量,,就可以知道元素的類型,這是熒光X射線定性分析的基礎,。此外,,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,,因此可以對元素進行定量分析。當使用X射線照射樣品時,,樣品可以刺激各種波長的熒光X射線,,需要根據(jù)波長(或能量)分離混合X射線,分別測量不同波長(或能量)的X射線強度進行定性和定量分析,,因此使用的儀器稱為X熒光光譜儀,。由于X熒光具有一定的波長和一定的能量,
手持熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散和能量色散,。