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IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,,能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測,,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢,。適用于棱鏡,、鍍膜鏡、膠合鏡,、平行平板,、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測,。
簡介
IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,,能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測,,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢,。適用于棱鏡、鍍膜鏡,、膠合鏡,、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測,。
特點(diǎn)
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,,實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,,高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析,。
譜圖管理:IR孔透過率測試儀可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測量結(jié)果,,記錄譜圖測試積分時(shí)間,,能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色,、選擇是否顯示,、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析,。
自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測更快速,,結(jié)果更準(zhǔn)確,。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果,,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加,、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究,。
CIE顏色測量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù),,x,y,,L,,a,b,,飽和度,,主波長等。
數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,,自定義測量報(bào)告出具單位名稱,。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào)DMS(1型)DMS(2型)
探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍380-1000nm360-1100nm
波長分辨率1nm1nm
信噪比(全信號(hào))250:11000:1
相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0,。2%(400-800nm)
單次測量時(shí)間﹤1s
樣品尺寸≥Φ1mm
操作系統(tǒng)/接口WindowsXP,,WindowsVista/USB2。0
電源/功率220V-50HZ/6W