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　　簡介
 

　　IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率,，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢,。適用于棱鏡,、鍍膜鏡、膠合鏡,、平行平板,、太陽膜,、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
 

　　特點
 

　　智能化軟件操作：可自定義測量方式和角度,，實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),，自動調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析,。
 

　　譜圖管理：IR孔透過率測試儀可同時記錄多達20個樣品譜圖,，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間,，能對譜圖進行更名,、定義顏色、選擇是否顯示,、加粗等操作,，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
 

　　自定義測量方案：用戶可以自行定義測量的方案,，同時設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測更快速,，結(jié)果更準(zhǔn)確,。
 

　　譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果,，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加,、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究,。
 

　　CIE顏色測量功能：可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù),，x，y,，L,，a，b,，飽和度,，主波長等。
 

　　數(shù)據(jù)報告打印功能：可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,，自定義測量報告出具單位名稱,。
 

　　技術(shù)參數(shù)
 

　　型號DMS(1型)DMS(2型)
 

　　探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
 

　　檢測范圍380-1000nm360-1100nm
 

　　波長分辨率1nm1nm
 

　　信噪比(全信號)250：11000：1
 

　　相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0,。2%(400-800nm)
 

　　單次測量時間﹤1s
 

　　樣品尺寸≥Φ1mm
 

　　操作系統(tǒng)/接口WindowsXP,，WindowsVista/USB2。0
 

　　電源/功率220V-50HZ/6W