磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠家
磨粉按照研磨粉顆粒的尺寸大小來區(qū)分的,,一般被分為磨粒,、磨粉、微粉和精粉四種,。粉體樣品中不同粒徑顆粒占顆??偭康陌俜?jǐn)?shù),。有區(qū)間分布和累計(jì)分布兩種形式。區(qū)間分布又稱為微分分布或頻率分布,,它表示一系列粒徑區(qū)間中顆粒的百分含量。累計(jì)分布也叫積分分布,,它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量,。磨粉激光粒度儀是一款用于檢測(cè)研磨粉顆粒粒徑及粒徑分布的精密儀器,,該儀器具有測(cè)試速度快、測(cè)試范圍寬,、重復(fù)性和真實(shí)性好,、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn),。
磨粉激光粒度儀供應(yīng)廠家
磨粉激光粒度儀適用范圍:
LAP-DW2000激光粒度儀廣泛應(yīng)用于水泥,、陶瓷,、藥品、乳液,、涂料,、染料,、顏料,、填料、化工產(chǎn)品,、催化劑、鉆井泥漿,、磨料、潤(rùn)滑劑,、泥砂,、粉塵,、細(xì)胞、細(xì)菌,、食品,、添加劑,、農(nóng)藥、石墨,、感光材料,、燃料,、墨汁、金屬與非金屬粉末,、碳酸鈣、高嶺土,、水煤漿,、鋁銀漿及其他粉狀物料,。
LAP-DW2000干濕一體激光粒徑檢測(cè)儀主要性能特點(diǎn):
*的光路設(shè)計(jì):LAP-DW2000激光粒度儀采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù),保證在較短的焦距獲得大量程,,有效提高儀器的分辨能力;*的高密度探測(cè)單元,,讓LAP-DW2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力,,高密度探測(cè)單元的使用讓LAP-DW2000具有*的全量程無縫測(cè)試能力。
干,、濕一鍵切換:干濕切換將由儀器自動(dòng)完成,,全部過程10S內(nèi)完成,。
主探測(cè)器Z向自動(dòng)移動(dòng):干濕切換后因光學(xué)玻璃的介入會(huì)導(dǎo)致會(huì)聚光焦距變化,LAP-DW2000激光粒度儀會(huì)根據(jù)干,、濕法的不同自動(dòng)調(diào)整主探測(cè)器,使主探測(cè)器始終在焦平面上(實(shí)現(xiàn)光路三維自動(dòng)校對(duì)),。
防塵、防震設(shè)計(jì):儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì),,大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的影響,,使測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定可靠。
強(qiáng)防腐設(shè)計(jì)(選配):根據(jù)客戶實(shí)際需求可以配備耐酸,、耐堿、耐油(含一切溶劑油),、耐有機(jī)溶劑,。
進(jìn)口氦-氖激光器:LAP-DW2000激光粒度儀采用了高穩(wěn)定,、長(zhǎng)壽命的進(jìn)口氦-氖激光器,優(yōu)良的單色性及穩(wěn)定性讓LAP-DW2000擁有了*的測(cè)試重復(fù)性(標(biāo)配為國(guó)產(chǎn)),。
光路自動(dòng)校對(duì):自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),,儀器可自動(dòng)校對(duì)光路,。
*微量循環(huán)系統(tǒng):整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),分散介質(zhì)大于150毫升即可循環(huán)測(cè)試,,真正達(dá)到了微量循環(huán)測(cè)試;優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無廢液殘留,,保證了下一次測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,。
超寬量程:LAP-DW2000激光粒度儀量程達(dá)到了0.1μm~2000μm。
免排氣泡設(shè)計(jì):全新的設(shè)計(jì)使整個(gè)測(cè)試過程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測(cè)試樣品窗,,避免了氣泡影響。
樣品無殘留設(shè)計(jì):儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),,儀器管道,、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留,,避免對(duì)下一次測(cè)試數(shù)據(jù)的影響;干法測(cè)試同樣進(jìn)行了無殘留設(shè)計(jì),。
干法計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制喂料:LAP-DW2000干法測(cè)試時(shí)測(cè)試人員可通過電腦遠(yuǎn)端控制喂料速度,,大大減少了測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度,。
樣品窗快換裝置:全新設(shè)計(jì)的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷,。
干濕一體激光粒徑檢測(cè)儀*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng),保證顆粒保證測(cè)試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象,,測(cè)試完畢后無廢液積存設(shè)計(jì),,保證了下一次測(cè)試精度,,使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠;干法分散采用力了直線噴射分散設(shè)計(jì),,樣品經(jīng)過高壓氣體分散后垂直向后方飛行,,避免了待測(cè)小顆粒的二次團(tuán)簇,,同時(shí)采取了管道無殘留設(shè)計(jì),保證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性,。*的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng),、干濕一鍵切換系統(tǒng),、干法電腦遠(yuǎn)端控制喂料系統(tǒng)等精心設(shè)計(jì)彰顯出LAP-DW2000*優(yōu)勢(shì)。