產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
如需更詳細(xì)資料或報(bào)價(jià)請資詢:
Web: www.eastco-hk,。,。com
Microderm CMS便攜式Beta射線無損測厚儀
美國UPA Microderm CMS便攜式貝塔射線無損測厚儀
美國UPA Microderm CMS手提式貝爾塔射線無損測厚儀
美國UPA玻璃膜層測試儀產(chǎn)品介紹
世界上*款手持式β射線測量儀器
精確測量涂鍍層厚度
在生產(chǎn)線上可作為手持式儀器,在質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室可作為臺(tái)式儀器使用
● 多樣化的探針和探針臺(tái)設(shè)備可測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的樣品
● 菜單控制,、友好操作界面的軟件和易于讀數(shù)的背景光讀數(shù)顯示
● 可通過USB端口將樣品數(shù)據(jù)傳輸至電腦
● 人體力學(xué)設(shè)計(jì),,使用舒適、方便,、效率高
● 充電式鎳電池,,可連續(xù)測量使用20小時(shí)
● 充電底座可充當(dāng)測量工作臺(tái)
美國UPA玻璃膜層測試儀典型應(yīng)用:
粘合劑/鋼,鋁,玻璃;鋁/鐵鎳鈷合金,鋼,玻璃,硅,;
氧化鋁/鎳合金,;巴式合金/青銅,黃銅,銅,鐵;
銅/鋁,鈹,碳,陶瓷,塑膠,;鉻/銅,鋁,;
鎘/鋼,黃銅,不銹鋼;化學(xué)鎳/鋁,塑膠,;
金/鎳,銅,硅,陶瓷,;氧化鐵/聚酯薄膜;
鉛/黃銅,青銅,;滑潤劑/鋼,鋁,黃銅,銅,;
聚酯薄膜厚度,;
鎳/鋁,鈹;鈀/鎳,;
光阻材料/銅,;鉑/鎳;底漆/玻璃,;
銠/鎳,銅,金,;銀/銅,鎳,陶瓷;
硅/塑膠,;焊錫/銅,黃銅,;
鉭/玻璃;錫/銅,黃銅,鋼,;
錫鎳合金/鎳,;氮化鈦/鋼,不銹鋼;
MicroDermCMS規(guī)格參數(shù):
尺寸:9.5″×5.0″×2.5″(250mm×125mm×62.5mm)
重量:1.5lbs. (0.65kg)
顯示:2″×2.4″(50mm×60mm)背景光顯示區(qū)域320×240像素,;?VGA
存儲(chǔ):100 應(yīng)用,;20 校準(zhǔn);350,000 測量結(jié)果存儲(chǔ)
統(tǒng)計(jì):平均值,,標(biāo)準(zhǔn)偏差,,
zui大/小值,范圍
輸出:9針串口至USB
電池:可充電式4AA 2500mAh NiMH電池
HH-3型和HH-2型探針是zui通用的β射線探針,,這些類型探針可以測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的微小樣品,,如圓柱體、薄片,、擋風(fēng)玻璃,、電子元器件和微小面積樣品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用來定位HH-3探針在微小表面積上的測量,,如電子元器件,。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具應(yīng)用于航空、汽車或其它需要測量大面積表面的工業(yè)(擋風(fēng)玻璃,、金屬板、薄板等)
UMS Probe Stand
UMS探測臺(tái)用于HH-3探針可精確控制測量位置,,底臺(tái)上附有固定設(shè)備,。
BTF Probe
BTF β射線薄膜厚度測量探針可以測量極其稀薄的濕或干的涂層,如沖壓滑潤劑,、底漆,、扁平零件上的粘合劑等。
HH-4 Probe
HH-4探針主要用來測量樣品內(nèi)部便面的涂/鍍層,,如管形材料,、軸承,、環(huán)形物、圓柱形物體等,。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作臺(tái)用來進(jìn)行精確,、即時(shí)測量非常小的零部件和電子元器件,如連接器,、接觸頭,、插腳、接線端等,。
精確測量涂鍍層厚度
在生產(chǎn)線上可作為手持式儀器,在質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室可作為臺(tái)式儀器使用
● 多樣化的探針和探針臺(tái)設(shè)備可測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的樣品
● 菜單控制,、友好操作界面的軟件和易于讀數(shù)的背景光讀數(shù)顯示
● 可通過USB端口將樣品數(shù)據(jù)傳輸至電腦
● 人體力學(xué)設(shè)計(jì),,使用舒適、方便,、效率高
● 充電式鎳電池,,可連續(xù)測量使用20小時(shí)
● 充電底座可充當(dāng)測量工作臺(tái)
美國UPA玻璃膜層測試儀典型應(yīng)用:
粘合劑/鋼,鋁,玻璃;鋁/鐵鎳鈷合金,鋼,玻璃,硅,;
氧化鋁/鎳合金,;巴式合金/青銅,黃銅,銅,鐵;
銅/鋁,鈹,碳,陶瓷,塑膠,;鉻/銅,鋁,;
鎘/鋼,黃銅,不銹鋼;化學(xué)鎳/鋁,塑膠,;
金/鎳,銅,硅,陶瓷,;氧化鐵/聚酯薄膜;
鉛/黃銅,青銅,;滑潤劑/鋼,鋁,黃銅,銅,;
聚酯薄膜厚度,;
鎳/鋁,鈹;鈀/鎳,;
光阻材料/銅,;鉑/鎳;底漆/玻璃,;
銠/鎳,銅,金,;銀/銅,鎳,陶瓷;
硅/塑膠,;焊錫/銅,黃銅,;
鉭/玻璃;錫/銅,黃銅,鋼,;
錫鎳合金/鎳,;氮化鈦/鋼,不銹鋼;
MicroDermCMS規(guī)格參數(shù):
尺寸:9.5″×5.0″×2.5″(250mm×125mm×62.5mm)
重量:1.5lbs. (0.65kg)
顯示:2″×2.4″(50mm×60mm)背景光顯示區(qū)域320×240像素,;?VGA
存儲(chǔ):100 應(yīng)用,;20 校準(zhǔn);350,000 測量結(jié)果存儲(chǔ)
統(tǒng)計(jì):平均值,,標(biāo)準(zhǔn)偏差,,
zui大/小值,范圍
輸出:9針串口至USB
電池:可充電式4AA 2500mAh NiMH電池
HH-3型和HH-2型探針是zui通用的β射線探針,,這些類型探針可以測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的微小樣品,,如圓柱體、薄片,、擋風(fēng)玻璃,、電子元器件和微小面積樣品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用來定位HH-3探針在微小表面積上的測量,,如電子元器件,。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具應(yīng)用于航空、汽車或其它需要測量大面積表面的工業(yè)(擋風(fēng)玻璃,、金屬板、薄板等)
UMS Probe Stand
UMS探測臺(tái)用于HH-3探針可精確控制測量位置,,底臺(tái)上附有固定設(shè)備,。
BTF Probe
BTF β射線薄膜厚度測量探針可以測量極其稀薄的濕或干的涂層,如沖壓滑潤劑,、底漆,、扁平零件上的粘合劑等。
HH-4 Probe
HH-4探針主要用來測量樣品內(nèi)部便面的涂/鍍層,,如管形材料,、軸承,、環(huán)形物、圓柱形物體等,。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作臺(tái)用來進(jìn)行精確,、即時(shí)測量非常小的零部件和電子元器件,如連接器,、接觸頭,、插腳、接線端等,。