現(xiàn)貨供應(yīng)二手掃描電鏡,二手場(chǎng)發(fā)射電鏡,二手透射電鏡

S-9300，S-9380,，S-806C,，H-7100，S-4700,，S-4200,，S-4160,，S-3000N，S-2700,，S-2400,，TM-1000

Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

日立新型高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立新推出的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，1kv的分辨率提升到1.3nm,，并在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破,，配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器,，可以接受SE,、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào)，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度,、原子序數(shù)襯度,、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測(cè)；結(jié)合選配的STEM探測(cè)器,，還可以實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像的觀測(cè),；此外在半導(dǎo)體應(yīng)用中，還可以安裝EBIC探測(cè)器,，采集感生電流圖像,，極大豐富了信號(hào)的采集，對(duì)樣品的信息的收集達(dá)到了新的高度,。

技術(shù)特點(diǎn)：
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm
2. 日立的ExB設(shè)計(jì),，不需噴鍍,，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據(jù)樣品類型和觀測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能
6. 標(biāo)配有冷指,、電子槍內(nèi)置加熱器,，物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶自行完成