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北京亞科晨旭科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第7年

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當(dāng)前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>表征檢測(cè)>>掃描電子顯微鏡>> mini-SEM桌上型掃描電鏡

桌上型掃描電鏡

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)mini-SEM

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2024-09-25 12:38:21瀏覽次數(shù):2960次

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背散射電子圖像分辨率 5nm 產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn)
二次電子圖象分辨率 10nmnm 放大倍數(shù) 60000x
加速電壓 30kV 價(jià)格區(qū)間 50萬(wàn)-100萬(wàn)
儀器種類 場(chǎng)發(fā)射 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池
SEC公司研發(fā)生產(chǎn)的桌上掃描電鏡(Mini-SEM)實(shí)現(xiàn)了大電鏡的小型化處理,結(jié)構(gòu)緊湊操作便捷,Mini-SEM以其人性化實(shí)用性設(shè)計(jì)及實(shí)惠的價(jià)格,,成為了廣泛應(yīng)用于以研究開(kāi)發(fā)和品質(zhì)管理教育等為目的的企事業(yè)單位,,政府機(jī)關(guān),學(xué)校,,研究所等機(jī)構(gòu)的經(jīng)濟(jì)普及型掃描電鏡。

桌上型掃描電鏡(mini-SEM)產(chǎn)品介紹:

SEC公司研發(fā)生產(chǎn)的桌上掃描電鏡(Mini-SEM)實(shí)現(xiàn)了大電鏡的小型化處理,,結(jié)構(gòu)緊湊操作便捷,Mini-SEM以其人性化實(shí)用性設(shè)計(jì)及實(shí)惠的價(jià)格,,成為了廣泛應(yīng)用于以研究開(kāi)發(fā)和品質(zhì)管理教育等為目的的企事業(yè)單位,政府機(jī)關(guān),,學(xué)校,研究所等機(jī)構(gòu)的經(jīng)濟(jì)普及型掃描電鏡,。

Mini-SEM用戶界面

掃描電子顯微鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描(高速電子轟擊樣品),,將產(chǎn)生的各種電子用特制的探測(cè)器收集,,形成電信號(hào)運(yùn)送到顯像管,在熒光屏上顯示物體,,或者將激發(fā)出來(lái)的特征X光通過(guò)能譜儀或者波譜儀進(jìn)行定量的成分分析的一種分析儀器。

掃描電鏡分辨率與電子在試樣上的小掃描范圍有關(guān),,電子束斑越小,,電子在試樣上的分辨率越高。在保證束斑足夠小的情況下,,電子束還要有足夠的強(qiáng)度。束流太低不能從試樣表面激發(fā)足夠的信號(hào),,噪聲影響大。

二次電子對(duì)形貌敏感,。凸起部位亮,,凹陷部位暗,,景深好,細(xì)節(jié)清晰,。

背散射電子對(duì)原子序數(shù)敏感,,原子序數(shù)高的區(qū)域能得到更多的背散射電子,,相應(yīng)圖像較亮,可以用來(lái)觀察材料成分的分部,。

X光:原子被激發(fā)會(huì)發(fā)出X光,每種元素受激發(fā)射發(fā)出的X光會(huì)不同,,通過(guò)對(duì)不同X光進(jìn)行檢測(cè),就可知道材料中包括什么元素和比例,。

背散射探測(cè)器受真空度影響不大,,可以適用于高真空和低真空模式,。

二次電子探頭受真空影響較大,分辨率大大降低,。在低真空模式下需要特定的探頭。

桌上型掃描電鏡應(yīng)用:

  • 半導(dǎo)體

薄膜結(jié)構(gòu)及缺陷,、材料成分分析、集成電路失效分析,、光刻版圖形貌、太陽(yáng)能電池,、顯示面板及半導(dǎo)體封裝焊接等,。

  • 金屬材料

細(xì)微晶體離子形態(tài)和結(jié)構(gòu)

  • 化學(xué)材料-燃料電池

不同型號(hào)性能對(duì)比:

分辨率

20nm / (BSE, 30kV)

15nm / (SE, 30kV)

20nm / (BSE, 30kV)

5nm (SE, 30kV)  


放大率

30x ~ 30,000x

(有效: 15,000x)

30 x ~60,000x

(有效: 30,000x)

30 x ~ 100,000 x

(有效  : 60,000 x)

加速電壓

5kV to 30kV (5/10/15/20/30 - 5step)

探測(cè)器

背散射電子探測(cè)器

二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器

二次電子探測(cè)器,,背散射可選

 

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