S8000 系列（NEW ! ）S8000 FE-SEM

全新設(shè)計的S8000超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量,，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,，不僅適用于的納米分析應(yīng)用,，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗,。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點：

• 新yi代鏡筒內(nèi)電子加速,、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力
• *配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,，物鏡無磁場外泄,，實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
• 配置4個新yi代探測器，可實現(xiàn)9種圖像觀測,，對樣品信息的采集更加全面
• 配置大型樣品室,，有超過20個擴展接口，為原位觀測,、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,，如EDS、EBSD,、CL,、EBL，并du家實現(xiàn)與Raman聯(lián)用

創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了新的BrightBeam™鏡筒,，實現(xiàn)了無磁場超高分辨成像,，可以大化的實現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析,。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計增強了低能量電子成像分辨率,，特別適合對電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外,，EquiPower™透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性,。

BrightBeam™電子光學(xué)鏡筒及探測器系統(tǒng)
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配備新的多種探測器，更好的表面靈敏度和對比度

S8000可配置新的多種探測器,，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector,，可選擇不同角度和不同能量來收集信號，體現(xiàn)更多種類的信息,，同時獲得更好的表面靈敏度和對比度,。