儀器介紹

TEJDCS2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的,，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試,。

絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試裝置能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試,。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

TEJDCS-2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是一種基于串聯(lián)諧振原理工作的50kHz～160MHz高頻阻抗測量儀器,，對電感器,，電容器，絕緣材料等進(jìn)行高頻的有效電感,，Q值,，電容值和ε，tanδ及高頻電纜特性阻抗和衰減系數(shù)的測量

1 特點：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù),，使測Q精度和速度大大提高,。

◎ Q值四位有效顯示，0.1Q分辨率,。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感8nH,，保證高頻時直讀Q值的誤差較小,。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值,，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等,。

◎ Q值量程自動/手動量程控制,。

◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測試的可靠性和速度,。

◎ 獨立50kHz～160MHz信號源輸出口,，所以本機(jī)又是一臺160MHz的合成信號源，頻率準(zhǔn)確度±50ppm,，穩(wěn)定度±10ppm,。

2 主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 工作頻率范圍：
  50kHz～160MHz，五位有效數(shù)顯,。

2.2 Q值測量范圍：
  1～1000；分1～30,，10～100,，30～300，100～1000 四檔,。分辨率0.1Q.

2.3 Q值固有誤差：
  ±5%±3% 滿刻度值,。

2.4 有效電感測量范圍：
  0.02µH～200mH。

2.5 電感測量誤差：
  ≤3%±0.01µH

2.6 調(diào)諧電容特性：

2.6.1可調(diào)電容范圍：
  13pF～220 pF,。

2.6.2 精確度：
  ±1% 或0.5pF,。

2.6.3 電容量測量范圍：
  1pF～200pF。

2.6.4 電容測量誤差：
  ±1%±0.5pF,。

2.6.5 殘余電感值：
  約8nH,。

2.7 Q預(yù)置功能：
2.7.1Q預(yù)置范圍：
  5～999均可。被測件達(dá)到預(yù)置值后有“GO"顯示和蜂鳴聲提示,。不合格件則顯示“NO GO",。

2.8 外形尺寸及重量：
  415×180×170（mm）,7kg。