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深圳市恩陽電子有限公司
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X射線鍍層厚度分析儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號Thick8000

品       牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時間:2022-02-25 16:58:58瀏覽次數(shù):1684次

聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,電子/電池,包裝/造紙/印刷
X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀: Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器,。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金,、鉑,、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
  • 分析含量:ppm到99.9%

  • 溫度適應(yīng)范圍:15℃至30℃

  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

  • 樣品腔尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

  • 分析范圍:同時可以分析30種以上元素,,五層鍍層

  • 移動平臺:精密二維移動樣品平臺,,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動,。

Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器,。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定,;黃金,、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測,。

Thick 8000 鍍層測厚儀


1,、X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀儀器概述

   Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定,;黃金,、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測,。

2,、性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護(hù)措施,,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,,一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢,、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

3,、X射線鍍層厚度分析儀,X熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),,小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm,、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

2、性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,,自動切換
雙重保護(hù)措施,,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,,提高測試精度
全自動智能控制方式,,一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,,升起Z軸測試平臺,,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

3,、技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),,小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm,、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃


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