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深圳市恩陽電子有限公司
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膜厚儀 鍍層厚度檢測儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號Thick8000

品       牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時間:2020-05-09 14:28:38瀏覽次數(shù):1093次

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膜厚儀 鍍層厚度檢測儀: Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器,。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定,;黃金、鉑,、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測,。
  • 企業(yè)類型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
  • 環(huán)境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

X射線熒光光譜儀特點X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短,頻率很高,,其波長約為(20~0.06)×10-8厘米之間,。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時發(fā)出來的,,而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時發(fā)射出來的,。X射線在電場磁場中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流,,因此能產(chǎn)生干涉,、衍射現(xiàn)象。 

X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識譜兩部分組成 ,,標(biāo)識譜重疊在連續(xù)譜背景上,,連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射,其短波極限λ 0 由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),,e為電子電量,,c為真空中的光速。標(biāo)識譜是由一系列線狀譜組成,,它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,,每種元素各有一套特定的標(biāo)識譜,反映了原子殼層結(jié)構(gòu) ,。同步輻射源可產(chǎn)生高強度的連續(xù)譜X射線,,現(xiàn)已成為重要的X射線源。 

X射線熒光光譜儀的X射線具有很高的穿透本領(lǐng),,能透過許多對可見光不透明的物質(zhì),,如墨紙、木料等,。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發(fā)生可見的熒光,,使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng),波長越短的X射線能量越大,,叫做硬X射線,,波長長的X射線能量較低,稱為軟X射線,。當(dāng)在真空中,,高速運動的電子轟擊金屬靶時,靶就放出X射線,,這就是X射線管的結(jié)構(gòu)原理,。

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天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產(chǎn)品是天瑞集多年鍍層行業(yè)的經(jīng)驗,,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的多款儀器,可全自動軟件操作,,可多點測試,,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,。天瑞鍍層測厚儀功能強大,,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜,、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā),、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè),。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市,。股票代碼為300165,。

8000.jpg

  Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定,;黃金、鉑,、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測,。

膜厚儀 鍍層厚度檢測儀性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*的圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護措施,,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,,一鍵式操作!
開機自動退出自檢,、復(fù)位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,,方便放樣 
關(guān)蓋推進樣品臺,,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

膜厚儀 鍍層厚度檢測儀技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:24個元素,,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達0.1%
穩(wěn)定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),,最小孔徑達0.1mm,,最小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

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