ZL2817D系列LCR數(shù)字 電橋是本公司新研制的低頻元件測(cè)量?jī)x器的換代產(chǎn)品,，其中應(yīng)用多項(xiàng)元件測(cè)量的技術(shù)，大字符LCD顯示,，SMD貼片工藝,，操作方便，外形美觀,?？芍苯訙y(cè)量多達(dá)六種的元件參數(shù)組合，能滿(mǎn)足生產(chǎn)線(xiàn)質(zhì)量保證,，進(jìn)貨檢驗(yàn)及自動(dòng)化生產(chǎn)的需要,。

RS-232接口可為用戶(hù)提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。HANDLER接口可連接元件自動(dòng)分選系統(tǒng),。

ZL2817D系列LCR數(shù)字電橋性能特點(diǎn)       　  

簡(jiǎn)便操作與強(qiáng)大功能的合理結(jié)合

采用SMT表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性

大型白色背光LCD顯示屏

100Hz～100kHz,8個(gè)典型測(cè)試頻率

0.1V,、0.3V、1.0V三個(gè)典型測(cè)試電平

30Ω/100Ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同LCR表的測(cè)試*性

配置RS232接口和HANDLER接口

ZL2817D系列LCR數(shù)字電橋技術(shù)指標(biāo)

數(shù)字電橋就是能夠測(cè)量電感,，電容,，電阻，阻抗的儀器,，這是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說(shuō)法,， 早的阻抗測(cè)量用的是真正的電橋方法，隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展,，早已經(jīng)淘汰了這種測(cè)量方法,，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR 數(shù)字電橋,。一般用戶(hù)又稱(chēng)這些為：LCR測(cè)試儀,、LCR電橋、LCR表,、LCR Meter等等,。

性能特點(diǎn):

廣泛的測(cè)量對(duì)象

半導(dǎo)體元件：電容器、電感器,、磁芯,、電阻器、變壓器,、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量,。

其它元件：印制電路板、繼電器,、開(kāi)關(guān),、電纜、電池等的阻抗評(píng)估,。

介質(zhì)材料：塑料,、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估,。

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估,。

半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性,。

液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性,。

多種元件,、材料特性測(cè)量能力

多參數(shù)混合顯示功能

多參數(shù)同時(shí)顯示可滿(mǎn)足復(fù)雜元件各種分布參數(shù)的全面觀察與評(píng)估要求，而不必反復(fù)切換測(cè)量參數(shù),。

電感L和其直流電阻DCR可以同時(shí)測(cè)量顯示,，顯著提高電感測(cè)量效率。

揭示電感器件的多種特性

使用內(nèi)部/外部直流偏置,，結(jié)合各種掃描測(cè)試功能,，可以地分析磁性材料、電感器件的性能,。

通過(guò)偏置電流疊加測(cè)試功能,，可以測(cè)量高頻電感器件、通訊變壓器,，濾波器的小電流疊加性能,。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以分析高功率,、大電流電感器件,。

的陶瓷電容測(cè)量

1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測(cè)試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征,，同時(shí)其容量,、損耗施加之交流信號(hào)會(huì)產(chǎn)生明顯的變化。

儀器具有寬頻測(cè)試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度,，六位分辨率和自動(dòng)電平控制（ALC）功能等,，中以滿(mǎn)足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測(cè)試需要,。

液晶單元的電容特性測(cè)量

電容－電壓（C－Vac)特性是評(píng)價(jià)液晶材料性能的主要方法,，常規(guī)儀器測(cè)量液晶單元的C－Vac特性遇到一個(gè)問(wèn)題是大測(cè)試電壓不夠。

使用擴(kuò)展測(cè)量選件可提供分辨率為1%及

高達(dá)20Vms的可編程測(cè)試信號(hào)電平,，使它能在條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測(cè)量,。

半導(dǎo)體材料和元件的測(cè)量

進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評(píng)價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù),，這些可從C－Vdc特性的測(cè)量結(jié)果推導(dǎo)出來(lái),。

通過(guò)提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能,，可以方便地完成C-VDC特性的測(cè)量,。

為了測(cè)試晶圓上的半導(dǎo)體器件,，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小,。

各種二極管,、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測(cè)試內(nèi)容