植物圖像分析儀系統(tǒng)工作原理|價格|云飛科技
植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像,，通過分析軟件,，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù),，只操作一次即可,，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分,，也可以躲開不符合測量計算的障礙物,。
植物圖像分析系統(tǒng)    產(chǎn)品簡介：
該多用途*型的植物葉面積、根系,、年輪,、葉色分析儀是一種方便、可在野外或?qū)嶒炇沂褂玫木C合性分析儀器,，精確度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的分析儀（傳送或基于相機的類型）,。采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，可精確,、快速,、無損傷地測定葉片的葉面積和葉色參數(shù)，也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體進行面積測量,，還可進行葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢,，用于植物或作物氮肥狀態(tài)的快速評價）。系統(tǒng)的植物年輪分析模塊可用于樹木年代學(xué),、年輪生態(tài)環(huán)境變化學(xué),、年輪氣候?qū)W、地理科學(xué)、考古學(xué)研究,。植物根系分析模塊為可選模塊，用于洗根后的專業(yè)根系分析,，可分析根系長度,、直徑、面積,、體積,、根尖記數(shù)等，其功能強大,，操作簡單,，運用于根系形態(tài)和構(gòu)造研究。該儀器綜合了植物,、農(nóng)作物在葉面積,、根系、年輪,、葉色這4大方面的分析功能,，廣泛適用于農(nóng)業(yè)、林業(yè),、氣象等部門,。
植物圖像分析系統(tǒng)  技術(shù)參數(shù)：
葉分析測量參數(shù)：葉面積 （可累計面積）、葉片面積（可累計面積）,、葉子穿孔面積 （可累計面積）,、葉片長度和寬度、葉柄長度,、葉周長 （不受葉片孔洞影響）,、葉片周長、葉片長寬比,、葉片形狀系數(shù),、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度,、寬度,、數(shù)量測量，葉孔面積測量,；包膜（齒-齒之間的直線長度和）,，包膜形成的投影面積；不規(guī)則葉片形態(tài)分析,，輔助真彩病理分析,，葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于氮肥狀態(tài)的外觀評價）。
植物年輪測量分析：可自動判讀年輪數(shù),、各年輪平均寬度,、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積,?？勺詣觿澐殖瞿贻嗊吔纭⒃绮倪吔?、晚材邊界,，以及識別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪,、插入斷年輪,。分析獲得的測量數(shù)據(jù)具備進一步做交叉定年、生成年表,、數(shù)據(jù)分析處理能力,。
植物根系可分析測量：1）根總長；2）根平均直徑,；3）根總面積,；4）根總體積；5）根尖計數(shù),；6）分叉計數(shù),；7）交疊計數(shù)；8）根直徑等級分布參數(shù),，等,。匹配專門的雙光源照明系統(tǒng)，提供高分辨率的彩色或黑白圖像,，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響,，有效保證圖像質(zhì)量。采用非統(tǒng)計學(xué)方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等,，可讀取處理TIFF,、BMP、JPEG標(biāo)準(zhǔn)格式的圖像,。
植物葉面積分析   植物葉色比對分檔
植物年輪分析1    植物年輪分析2
植物根系分析1    植物根系分析2

植物圖像分析儀系統(tǒng)工作原理|價格|云飛科技植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè),、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培,、育種,、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹,、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析,。能測算植物冠層的太陽直射光透過率,、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù),，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等,。植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝,、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培,、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物,、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析,。能測算植物冠層的太陽直射光透過率,、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù),，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等,。

植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定,，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù),。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下,， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,，該方法是各類方法中zui精確和zui省力、省時,、快捷方便的方法,。