泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡

       泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡,，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現(xiàn)了 SEM 成像和實時元素分析,。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程,，從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案,。

突出特點

   *集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺,，可在 Essence™ 軟件的同一個窗口中實現(xiàn) SEM 成像和實時元素分析；

   TESCAN *的無光闌光路設(shè)計及實時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™),，可快速獲得的成像和分析條件,；

   *的大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計，可實現(xiàn)小放大倍率低至2倍,，因而無需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機,，即可輕松、對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,；

   標(biāo)配的 SingleVac™ 模式,，不導(dǎo)電樣品或電子束敏感樣品無需噴鍍即可在此模式下直接進(jìn)行觀察；

   直觀的模塊化 Essence™ 軟件,，無論用戶的經(jīng)驗水平如何,，均可輕松操作,；

    Essence™ 3D 防碰撞模型，可確保樣品臺和樣品移動時,，安裝在樣品室內(nèi)探測器的安全性,；

   可選配的鏡筒內(nèi) SE 和 BSE 探測器，以及電子束減速技術(shù),，更好的提升了低電壓下的成像性能,；

   標(biāo)準(zhǔn)分析平臺，可選配集成多種類的探測器和附件（如陰極熒光探測器,，水冷背散射電子探測器等）,。