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MP工具箱 | Zetasizer測試結(jié)果質(zhì)量判別
在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結(jié)果前,，我們要確保所測試的樣品濃度合適,。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說,，在合適的濃度范圍內(nèi)，粒徑大小是不隨濃度變化的,。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài),。還可以通過對count rate（測試光強）和 attenuator （衰減器編號）等參數(shù)來考察樣品濃度是否合適。
正常的樣品濃度,，光強會在適合范圍內(nèi),；如果衰減器編號過低或者過高，樣品的濃度就可能過高或者過低,，導致影響測試準確性,。如果濃度合適,，光強均在100-500kcps 之間，Attenuator 會在5-9 之間,，＞9 樣品較稀,，＜5 樣品較濃。
相關(guān)方程顯示了粒子散射光波動的信息,，相當于測試原始信號,。如下列例圖，樣品本身的粒徑大小及分布等信息,，可以從相關(guān)方程得到,，尤其要關(guān)注以下四點信息：
Correlation Functions----相關(guān)方程
1
截距——信噪比
一般截距在0.85-0.95 之間，過高＞1 可能體系中存在較多的大顆粒信號,，數(shù)量波動較大,；過低可能是顆粒較小且濃度較稀,；如果只有0.00+可能體系有熒光,。
2
時間依賴性——顆粒大小
如果時間依賴性長，說明顆粒較大,，反之,，顆粒較小。
3
斜率——樣品分布寬度
斜率較大說明樣品分布較窄,，反之,，則較寬。如果有兩個斜率,，通常樣品雙峰分布,。
4
基線——大顆粒或灰塵影響
如果基線不平,，則說明體系中有很大的粒子,、灰塵、締合物等,；如果基線光滑且歸零,，說明體系無大顆粒、灰塵等,。大顆粒會影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量,。