當前位置:馬爾文帕納科>>技術文章>>X射線衍射儀應用介紹
X射線衍射儀應用介紹
X射線衍射法是一種利用單色X射線光束照射到一顆晶體(單晶X射線衍射法,SXRD)或眾多隨機取向的微小晶體(粉末X射線衍射法,,PXRD)來測量樣品分子三維立體結構或特征X射線衍射圖譜的檢測分析方法,。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染,、快捷,、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點,。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用,。
X射線衍射儀是由X射線光源(直流高壓電源、真空管,、陽極靶),、準直系統(tǒng)(準直管、樣品架),、儀器控制系統(tǒng)(指令控制,、數據控制)、冷卻系統(tǒng)組成,。
X射線衍射儀廣泛應用于物理,、化學、藥物學,、冶金學,、高分子材料、生命科學及材料科學,??梢苑治鲳ね恋V物、合金,、陶瓷,、食品、藥物,、生物材料,、建筑材料、高分子材料,、半導體材料,、超導材料、納米材料,、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定,,材料可以是單晶體,、多晶體、纖維,、薄膜等片狀,、塊狀、粉末狀固體,。
(1)當材料由多種結晶成分組成,,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,,分析各結晶相的比例,。
(2)很多材料的性能由結晶程度決定,可使用XRD結晶度分析,,確定材料的結晶程度,。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數,使用XRD可快捷測試出點陣參數,,為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標,。
(4)產品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,,可能涉及微觀應力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應力,。
(5)納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據,。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。