X射線熒光光譜儀是一種常用的光譜儀產(chǎn)品,，可以是固體、粉末,、熔融片,，液體等，分析對象適用于煉鋼,、有色金屬,、水泥、陶瓷、石油,、玻璃等行業(yè)樣品,。

X射線熒光光譜儀具有靈明度強(qiáng)、度高,、檢測范圍廣,、自動快速等特點，廣泛應(yīng)用于地質(zhì),、冶金,、有色金屬加工、建材,、考古等領(lǐng)域,，在主、次量和痕量元素分析中發(fā)揮的作用日趨重要,，特別是在無損分析和原位分析方面具有不可替代的作用,。X 射線熒光光譜儀有波長色散型（WDXRF）和能量色散型（EDXRF）兩種基本類型。

X 射線管產(chǎn)生X 射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品,。使樣品所含的每種元素放射出二次X射線；不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的波長特性,。二次X射線經(jīng)過分光晶體,，變成單一波長的譜線，探測器測量這些譜線的數(shù)量,。然后,，分析軟件通過探測系統(tǒng)收集到的信息，對被測樣品進(jìn)行定性和定量分析,，轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。利用X 射線熒光分析原理，理論上可測量元素周期表中的每一種元素,。

X射線熒光光譜分析的一般步驟是：選擇分析方法,，樣品制備，儀器參數(shù)選擇與校準(zhǔn)曲線的制作,，試樣分析,。