X射線衍射儀（XRD）是通過對材料進行X射線衍射,，分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。

X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法,。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型,、分子內(nèi)成鍵方式,、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品,、無污染,、快捷、測量精度高,、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點,。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。

X射線衍射儀使用注意事項：

（1）固體樣品表面＞10×10mm,，厚度在5μm以上,，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起,。
（2）對于片狀,、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常,，需提供測試方向,。
（3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體,，要求制備成金相樣品,，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層,。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度,，直徑約40微米，重量大于5g,。