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北京圣達(dá)駿業(yè)科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第8年

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高靈敏度能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

參   考   價(jià): 9999

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)HS XRF®

品       牌其他品牌

廠(chǎng)商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2024-11-17 20:45:55瀏覽次數(shù):1972次

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高靈敏度能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀原理:依賴(lài)全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)光管出射譜單色化聚焦激發(fā)樣品,,降低X射線(xiàn)管散射線(xiàn)背景干擾,大幅降低元素檢出限,,達(dá)到對(duì)樣品中痕量元素分析能力,;

一,、 核心技術(shù)綜述

高靈敏度能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(HS XRF®)

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     全聚焦雙曲面彎晶衍射X射線(xiàn)管出射譜中高強(qiáng)特征X射線(xiàn),將X射線(xiàn)光管出射譜單色化并聚焦入射到樣品一點(diǎn),,因此從樣品出射的X射線(xiàn)除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)和單色化入射譜線(xiàn)的散射線(xiàn)外,,不存在X射線(xiàn)管韌致輻射所引起的連續(xù)散射背景,從而大幅降低元素?zé)晒馍渚€(xiàn)的散射線(xiàn)背景,。

單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀與當(dāng)前*的硅漂移探測(cè)器(SDD)是天作之合,,硅漂移探測(cè)器計(jì)數(shù)率最高達(dá)到100萬(wàn)CPS,所探測(cè)樣品熒光射線(xiàn)的立體角也受到接受晶體面積的限制,,單波長(zhǎng)聚焦激發(fā)降低入射射線(xiàn)背景射線(xiàn)強(qiáng)度的同時(shí),,又聚焦激發(fā),提升SDD探測(cè)的樣品元素?zé)晒馍渚€(xiàn)立體角,,大幅提升元素?zé)晒馍渚€(xiàn)信噪比,。

單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀將元素檢出限降低至亞ppm水平,從而滿(mǎn)足微量和痕量元素分析需求,。

1) 快速基本參數(shù)法(Fast FP®與*數(shù)學(xué)模型(Advanced mathematical models縮寫(xiě)為Advanced MM

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      XRF法面臨的難題是基體效應(yīng),、元素間吸收-增強(qiáng)效應(yīng)、標(biāo)準(zhǔn)樣品欠缺等問(wèn)題,,從而對(duì)于不同類(lèi)型樣品的定量分析帶來(lái)挑戰(zhàn),。

       快速基本參數(shù)法(Fast FP®)通過(guò)對(duì)X射線(xiàn)熒光光譜從產(chǎn)生到探測(cè)的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行計(jì)算,將物理學(xué)明確的物理現(xiàn)象建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型,,基本參數(shù)法消除了由于不同類(lèi)型樣品基體差異所產(chǎn)生的背景差異,,減少分析誤差,通過(guò)少數(shù)標(biāo)準(zhǔn)品的校正即可得到元素精確定量分析結(jié)果,。

安科慧生歷經(jīng)十幾年的積累,,成功將快速基本參數(shù)法與*數(shù)學(xué)模型應(yīng)用于XRF定量分析中,極大提升元素定量精度和樣品適應(yīng)性,。

一,、 高靈敏度能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀工作條件

電源:220V±5%,50Hz±1% ,;室內(nèi)溫度:15-35℃,;

相對(duì)濕度:≤85%;地線(xiàn):接地電阻≤4Ω

三,、主要技術(shù)指標(biāo)

1,、原理:依賴(lài)全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)光管出射譜單色化聚焦激發(fā)樣品,降低X射線(xiàn)管散射線(xiàn)背景干擾,,大幅降低元素檢出限,,達(dá)到對(duì)樣品中痕量元素分析能力;

2,、光源系統(tǒng):全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù),,單色化聚焦入射樣品,;

3、X射線(xiàn)管:微焦斑X射線(xiàn)光管,,最大功率<12W,,最大激發(fā)電壓<70KV;

4,、樣品口:最大樣品直徑30mm,,具有自旋裝置,可以減少由于樣品不均勻造成的分析誤差,;自動(dòng)開(kāi)關(guān)蓋設(shè)計(jì),軟件控制,;

5,、探測(cè)器:硅漂移探測(cè)器,窗口面積≥50mm2能量分辨率優(yōu)于139eV@Mn Kα,,最大計(jì)數(shù)率>1000Kcps,;

6、射線(xiàn)安全:樣品蓋與光管高壓電源聯(lián)動(dòng),,具有自動(dòng)鎖定功能,,儀器周?chē)c環(huán)境背景一致;

7,、氣氛保護(hù):可以加氫氣或氦氣氣氛保護(hù)系統(tǒng),,提升輕元素檢出能力;

8,、具備無(wú)標(biāo)定量分析能力,,基本參數(shù)法與*數(shù)學(xué)模型定量精度:主量元素1%-90%,相對(duì)誤差±10%,;雜質(zhì)元素0.01%-1%,,相對(duì)誤差±15%;微量元素0.0001%-0.01%,,相對(duì)誤差±20%,;

9、可以依賴(lài)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)建立校準(zhǔn)曲線(xiàn),,實(shí)現(xiàn)更精確定量能力,;

10、元素分析范圍:Na-U

11,、 檢出限:S/Cl LOD=10mg/kg,,Pb/As LOD=0.07mg/kg,Cd LOD=0.06mg/kg

(水基體,,元素分析時(shí)間300秒)

12,、重復(fù)性:Pb/As/Cd 1=5.0mg/kg RSD<5%

土壤基體,,元素分析時(shí)間300秒,連續(xù)分析7次)


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