NanoFocus μsurf系列三維形貌輪廓儀采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取,，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞,，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式,，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式,，不會(huì)破壞樣品的表面,，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,，在測量漸變較大的高度時(shí),，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度,，建立3D立體影像,，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。

μsurf系列三維形貌輪廓儀應(yīng)用 
    μsurf系列用來測量表面物理形貌,，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,，如3D表面形貌,、2D的縱深形貌、輪廓（縱深,、寬度,、曲率、角度）,、表面粗糙度等,。 
精密部件：檢測對(duì)表面磨損，表面粗糙度,，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件,，比如發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸、刀口等; 
    生命科學(xué)：測量stents支架上鍍層厚度等 
    微電子機(jī)械系統(tǒng)：微型器件的檢測,，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測,，如基因芯片等 
    半導(dǎo)體：檢測微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 
    太陽能：太陽能電池片柵線的3D形貌表征,、高寬比測量,，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量,、角度,，多晶腐蝕坑形貌、密度）,，粗糙度分析等 
    紙張：紙張,、錢幣表面三維形貌測量 
    LED：用于藍(lán)寶石襯底的測量，抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌 

μsurf系列技術(shù)參數(shù) 
    LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 
    測量時(shí)間：2~10秒 
    測量原理：非接觸,、共聚焦 
    X/Y方向：平臺(tái)移動(dòng)范圍：100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可選),，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，X/Y方向分辨率：0.3μm 
    Z方向測量范圍：350μm,，Z方向分辨率：< 1nm 
    物鏡：10X,、20X、50X,、100X(可選) 
    離軸攝像頭(10X),，zui大視野8 x 6 mm2(選配) 
    計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且全面的軟件,，有拼接功能 
    配有專業(yè)工作臺(tái)：尺寸1550x800x750 mm (LxH) 
    工作電源：100-240V, 50-60Hz,，input: 550 VA 
    材質(zhì)：鋼鐵、橡膠,、大理石 
    重量：約150KG+80KG 
    潔凈室等級(jí): Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)