奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列技術

　　渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,，并解讀來自這些感應線圈的信號,。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù)，可避免不同線圈之間的互感,。

　　OmniScan®ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）,。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻,。

　　渦流陣列的優(yōu)勢

　　同單通道渦流技術相比,，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：

　　●檢測時間大幅度降低。

　　●單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域,。

　　●減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性,。

　　●提供檢測區(qū)域實時圖像,，便于數(shù)據(jù)的判讀。

　　●很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測,。

　　●改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）,。

　　渦流陣列探頭

　　Olympus NDT制造的R/D Tech®ECA探頭可適用于廣泛的應用領域,。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋,、點蝕等缺陷,，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

　　傳感器之間的多路轉換技術,。

　　渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,，使渦流設置具有更大的靈活性。

　　探頭可以做成不同的形狀和尺寸,，以更好地適應檢測部件的外形,。

　　用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

　　用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼,。

　　用于表面裂痕檢測的式探頭,。

　　簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

　　●C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷,。

　　●分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。

　　●波幅,、相位和位置測量,。

　　●可調(diào)彩色調(diào)色板。

　　●大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應,。

　　校準向導

　　●分步進行。

　　●一組中的所有通道可被同時校準,，每個通道各有自己的增益和旋轉,。

　　●波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定。

　　報警

　　●３個報警輸出可將指示燈,、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起,。

　　●可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形、長方形,、環(huán)形等）,。

　　自動探頭識別和配置

　　●探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置,。

　　●頻率范圍保護可避免損壞探頭,。

　　分析模式下的求差工具

　　該功能可去除在相鄰通道間的提離變化,。

　　高級實時數(shù)據(jù)處理

　　●實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。

　　●使用兩個頻率,，可生成一個MIX信號,，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）,。

　　●數(shù)據(jù)處理可以選用高通,、低通、中值和平均濾波器,。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋,，因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果,，特別是對小裂紋而言,。