Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個(gè)測試頭中,，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道,，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能,，...
日本Otsuka量子效率測量系統(tǒng)QE-2000/2100 參考價(jià)：面議
日本Otsuka量子效率測量系統(tǒng)QE-2000/2100? 可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）? 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光? 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮...
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀 參考價(jià)：面議
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測溫儀雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用,，并可以測得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像,。...
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀 參考價(jià)：面議
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)...
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列 參考價(jià)：面議
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列分光光譜儀種類MCPD-9800：高動(dòng)態(tài)范圍分光MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀MCPD-7...
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 參考價(jià)：面議
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）1點(diǎn)1秒高速測量顯微...
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀 參考價(jià)：面議
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光譜儀,，非常適合研發(fā)任務(wù),。...
德國SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
德國SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀GDA 150 HR和GDA 650 HR GDOES光譜儀是用于質(zhì)量控制和研究的強(qiáng)大工具，旨在處理全...
導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)IPC-650M系列特點(diǎn)：高精度,、寬范圍的測量微小電阻在高,、低溫循環(huán)沖擊下，對焊接連接部,、接插件連接部以及通 路電阻進(jìn)行高精度連續(xù)測試,，檢測電阻...
表面絕緣電阻測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
表面絕緣電阻測試系統(tǒng)IPC-650S系列產(chǎn)品特點(diǎn)：靈活的、多通道分組測試能力可根據(jù)測試不同的需求,，建立多組測試模式,，在1 - 4個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱里測試不同的樣品
SPECTROCUBE偏振能量色散X熒光分析儀 參考價(jià)：面議
SPECTROCUBE偏振能量色散X熒光分析儀全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡單、可靠,、準(zhǔn)確,、高通量的分析，在貴金屬分析,、燃料和...
Rohs2.0 新增4種鄰苯二甲酸酯快速檢測方案 參考價(jià)：面議
Rohs2.0 新增4種鄰苯二甲酸酯快速檢測方案這套HP2000-GC系統(tǒng)能做20種鄰苯的檢測,，滿足鄰苯檢測需求，這個(gè)系統(tǒng)除了做鄰苯之外,，還可以做honglin...
德國徠卡金相顯微鏡DM2700M 參考價(jià)：面議
德國徠卡金相顯微鏡DM2700M超高亮度,，高功率LED照明，為用戶提供一個(gè)恒定色溫4500K明場,，暗場,，干涉相襯和偏光,。此外,，內(nèi)置的斜照明技術(shù)，用戶可以體驗(yàn)到更...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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