膜厚測試儀測量精度高,、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果至μin,。具有高性價價比,，有著非破壞、非接觸,、多合金測量、測量元素范圍廣,、測量,、測量時間短等特點；具有高生產(chǎn)力,、高再現(xiàn)性,，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本,。 采用磁感應(yīng)原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度,。覆層越厚，則磁阻越大,，磁通越小,。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度,。一般要求基材導磁率在500以上,。
膜厚測試儀電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相,、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù),，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路,，引入微機,，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,，分辨率達到0.1um,，允許誤差達1%，量程達10mm,。
膜厚測試儀自定義報告模板,，報告包可含數(shù)據(jù)、圖像,、統(tǒng)計圖表,、客戶信息等；統(tǒng)計數(shù)據(jù),、圖,、表含有平均值、標準偏差,、相對標準偏差,、zui大值、zui小值,、數(shù)據(jù)變動范圍,、數(shù)據(jù)編號、CP,、CPK,、控制上限圖、控制下限圖,，數(shù)據(jù)分組,、X-bar/R圖表、直方圖等,。
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