膜厚測(cè)試儀測(cè)量精度高,、穩(wěn)定性好,，測(cè)量結(jié)果至μin。具有高性價(jià)價(jià)比,，有著非破壞,、非接觸、多合金測(cè)量,、測(cè)量元素范圍廣,、測(cè)量、測(cè)量時(shí)間短等特點(diǎn),；具有高生產(chǎn)力,、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,，節(jié)約電鍍成本,。 采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，來(lái)測(cè)定覆層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度,。覆層越厚,，則磁阻越大，磁通越小,。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上,。
膜厚測(cè)試儀電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻,、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào),。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī),，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%,，量程達(dá)10mm,。
膜厚測(cè)試儀自定義報(bào)告模板,，報(bào)告包可含數(shù)據(jù),、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表,、客戶信息等,；統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、圖,、表含有平均值,、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差,、zui大值,、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍,、數(shù)據(jù)編號(hào),、CP、CPK,、控制上限圖,、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組,、X-bar/R圖表,、直方圖等。
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