溫度應(yīng)力試驗(yàn)箱
【簡單介紹】
品牌 | SETH/賽思 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
【詳細(xì)說明】
溫度應(yīng)力試驗(yàn)箱TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]:
30℃/min→ 電子原件焊錫可靠度,、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn);
28℃/min→ LED汽車照明燈,;
25℃/min→ PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn),、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng);
24℃/min→ 光纖連接頭,;
20℃/min→ IPC-9701 ,、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120,、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法,、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接,、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命,;
17℃/min→ MOTO;
15℃/min→ IEC 60749-25,、JEDEC JESD22-A104B,、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電,、計(jì)算機(jī),、通訊、民用航空器,、工業(yè)及交通工具,、 汽車引擎蓋下環(huán)境);
11℃/min→ 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試,、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) ,、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A,;
10℃/min→ 通用汽車,、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE ,、 CR200315 ,、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命,、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試,;
5℃/min→ 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn);
溫度應(yīng)力試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格:
內(nèi)箱尺寸:W x D x H cm 40×35×35,、 50×50×40、 60×50×50,、 70×60×60
外箱尺寸:W x D x H cm 140×165×165,、 150×200×175、 160×225×185、 170×260×193
溫度范圍: -80.00℃~+200.00℃,;
低溫沖擊范圍: -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃,;
高溫沖擊范圍: +60.00℃~+150.00℃;
時(shí)間設(shè)定范圍: 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment,;
溫度波動(dòng)度: ≤1℃(≤±0.5℃,,按GB/T5170-1996表示);
溫度偏差: ≤±2℃(-65℃~+150℃),;
溫度均勻度: <2.00℃以內(nèi),;
請(qǐng)輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字:
郵編:523588
聯(lián)系人:李小姐
電話:0769-82863486
傳真:0769-82863487
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