冷熱沖擊熱應力試驗箱改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán)、高低溫衝擊（兩箱式）,、高低溫+常溫衝擊（三箱式）、應力篩選ESS，至少需要購買四臺設備的狀況,。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗，需耗費許多添購設備&占用空間的硬體成本,， 一次解決您的需求,，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺使用的稼動率,。

冷熱沖擊熱應力試驗箱改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán),、高低溫衝擊(兩箱式)、高低溫+常溫衝擊(三箱式）,、應力篩選ESS,，至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗,，需耗費許多添購設備&占用空間的硬體成本,， 一次解決您的需求，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,，提高機臺使用的稼動率,。並且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定,，賽思秉持著符合國際規(guī)範的原則,，結合貼心的創(chuàng)新功能與技術，期待您詳細了解,。對不同電子構件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間,，降低測試費用,，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態(tài)的破壞試驗,。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)滿足無鉛制程,、無鉛焊錫、錫須(晶須),、DELL D4559,、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C,、IPC-9701...等試驗要求,。斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]：

冷熱沖擊熱應力試驗箱試驗分析：

技術規(guī)格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時間設定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃