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目錄:北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司>>弱吸收儀>>LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀>> LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀
  • LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2022-09-27 15:49:18瀏覽次數(shù):1865評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,道路/軌道/船舶
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),用于測(cè)量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下,,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),,當(dāng)一束探測(cè)光經(jīng)過(guò)“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移,,通過(guò)PSD位移傳感器測(cè)量其位置偏移量,。



LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀測(cè)量意義

在高功率激光系統(tǒng)中,,光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會(huì)引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問(wèn)題:
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個(gè)重要指標(biāo)


1.PNG

原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),,用于測(cè)量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收,。在強(qiáng)激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),,當(dāng)一束探測(cè)光經(jīng)過(guò)“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移,,通過(guò)PSD位移傳感器測(cè)量其位置偏移量。

13.jpg





LID技術(shù)參數(shù)一覽表

項(xiàng)目LID
儀器原理光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)
Pump激光器UV到IR常見(jiàn)激光波長(zhǎng)任選
           光束質(zhì)量要求不高,,可以同時(shí)配置多臺(tái)激光器
           不同波長(zhǎng)光路切換簡(jiǎn)單
Probe激光器LD 640nm
儀器校準(zhǔn)電極校準(zhǔn) 體吸收:樣品中間鉆孔放置棒型熱敏電 面吸收:表面放置熱敏電阻
測(cè)試項(xiàng)目體吸收,、HR及AR膜吸收

LID與PCI比較一覽表

項(xiàng)目LID
樣品屬性要求任何未知樣品或已知樣品
測(cè)試結(jié)果吸收系數(shù)是絕對(duì)值
區(qū)分面、體吸收可以
樣品規(guī)格方形,,且四面拋光(采用sandwich模塊只需兩面拋光),;
           圓形:厚度1mm,φ25.4mm min:3x3x3mm(采用sandwich模塊)
           通常:20x20x10mm
靈敏度面吸收:0.1ppm 體吸收:0.1ppm/cm
測(cè)量速度40min/片

LID校準(zhǔn)-電極校準(zhǔn)

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

采用電極校準(zhǔn)得出校正因子Fcal,, Ilid 為信號(hào)強(qiáng)度,,Pl 為pump光功率,。

特點(diǎn):是無(wú)需了解樣品材料的特性,便可提供獨(dú)立校準(zhǔn),。如果改變光熱偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)裝置,,需要客戶自己插入和連接校準(zhǔn)樣品,利用軟件完成自動(dòng)校準(zhǔn),。



8.PNG



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