目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測試系統(tǒng)>>光電測試系統(tǒng)>> VLOF 近紅外相機(jī)測試系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣,綜合 |
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多數(shù)的可見光-近紅外相機(jī)主要用于工作在白天環(huán)境中,但是基于科研級別或者國防級別等可見光-近紅外相機(jī)則需要在夜間微光環(huán)境下仍然具備理想的工作狀態(tài),。因此,,對于可見光-近紅外相機(jī)進(jìn)行可變的亮度條件模擬非常暗的夜間環(huán)境到非常亮的白天環(huán)境來進(jìn)行相應(yīng)的重要參數(shù)的測試是必要的,因為對于夜間微光環(huán)境下低靈敏度的相機(jī)會丟失重要的信息及指令,,或者相機(jī)在極亮的白天環(huán)境下由于低的動態(tài)范圍而飽和或形成模糊的圖像而無法工作,。 ⑴TVT測試系統(tǒng)用于可見光-近紅外相機(jī)的實驗室環(huán)境下測試。 ⑵ LOF測試系統(tǒng)用于野外環(huán)境下測試可見光-近紅外相機(jī)的參數(shù),。
基于CCD/CMOS/ICCD/EMCCD/EBAPS成像傳感器的可見光-近紅外相機(jī)作為獨立的成像器件或者多傳感系統(tǒng)中的一部分期間在許多監(jiān)視領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用,。多數(shù)的可見光-近紅外相機(jī)主要用于工作在白天環(huán)境中,但是基于科研級別或者國防級別等可見光-近紅外相機(jī)則需要在夜間微光環(huán)境下仍然具備理想的工作狀態(tài),。因此,,對于可見光-近紅外相機(jī)進(jìn)行可變的亮度條件模擬非常暗的夜間環(huán)境到非常亮的白天環(huán)境來進(jìn)行相應(yīng)的重要參數(shù)的測試是必要的,因為對于夜間微光環(huán)境下低靈敏度的相機(jī)會丟失重要的信息及指令,或者相機(jī)在極亮的白天環(huán)境下由于低的動態(tài)范圍而飽和或形成模糊的圖像而無法工作,。因此生產(chǎn)了以下類型的測試系統(tǒng)來精確測試評估可見光-近紅外相機(jī)參數(shù),。
TVT測試系統(tǒng)用于可見光-近紅外相機(jī)的實驗室環(huán)境下測試。
LOF測試系統(tǒng)用于野外環(huán)境下測試可見光-近紅外相機(jī)的參數(shù),。
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