目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測試系統(tǒng)>>光電測試系統(tǒng)>> FT型熱像儀核心及IR FPA測試系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣,綜合 |
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FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件,。探測器電路（核心）的設(shè)計是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分,。因為紅外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識,。因此,，測量紅外焦平面陣列性能的測量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
FT是一個完備的測試系統(tǒng),，它產(chǎn)生精確控制時空分布的紅外,，輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面；最后對被測紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進(jìn)行表征所需的輸出信號進(jìn)行半自動分析,。
該系統(tǒng)能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度,、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）?？蓽y試不同光譜波段（LWIR或MWIR）,、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供,，并針對不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化,，還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本,。
FT測量系統(tǒng)一個模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個半獨立的測量工作站：FT-N,，F(xiàn)T-I,，和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測量,；
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測量
3.FT-S——光譜參數(shù)測量,。
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