PHOENIX電源模塊設(shè)計方法資料分為幾部分
    PHOENIX電源模塊的電磁干擾水平是設(shè)計中zui難的部分,，設(shè)計人員能做的zui多就是在設(shè)計中進(jìn)行充分考慮,，尤其在布局時,。由于直流到直流的轉(zhuǎn)換器很常用,，所以硬件工程師或多或少都會接觸到相關(guān)的工作，本文中我們將考慮與低電磁干擾設(shè)計相關(guān)的兩種常見的折中方案
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    PHOENIX電源模塊設(shè)計中即使是普通的直流到直流開關(guān)轉(zhuǎn)換器的設(shè)計都會出現(xiàn)系列問題,，尤其在高功率電源設(shè)計中更是如此。除功能性考慮以外,，工程師必須設(shè)計的魯棒性,，以符合成本目標(biāo)要求以及熱和空間限制，當(dāng)然同時還要設(shè)計的進(jìn)度,。另外,，出于產(chǎn)品規(guī)范和系統(tǒng)的考慮，電源產(chǎn)生的電磁干擾(EMI)必須足夠低,。不過,，電源的電磁干擾水平卻是設(shè)計中zui難預(yù)計的項目。有些人甚認(rèn)為這簡直是不可能的,，設(shè)計人員能做的zui多就是在設(shè)計中進(jìn)行充分考慮,，尤其在布局時。
    盡管本文所討論的原理適用于廣泛的電源設(shè)計,，但我們在此只關(guān)注直流到直流的轉(zhuǎn)換器,，因為它的應(yīng)用相當(dāng)廣泛，幾乎每位硬件工程師都會接觸到與它相關(guān)的工作,，說不定什么時候就必須設(shè)計個電源轉(zhuǎn)換器,。本文中我們將考慮與低電磁干擾設(shè)計相關(guān)的兩種常見的折中方案;熱、電磁干擾以及與PCB布局和電磁干擾相關(guān)的方案尺寸等,。文中我們將使用個簡單的降壓轉(zhuǎn)換器做例子,，如圖1所示。
    在頻域內(nèi)測量輻射和傳導(dǎo)電磁干擾,，這就是對已知波形做傅里葉數(shù)展開，本文中我們著重考慮輻射電磁干擾,。在同步降壓轉(zhuǎn)換器中,，引起電磁干擾的主要開關(guān)波形是由Q1和Q2產(chǎn)生的，也就是每個場效應(yīng)管在其各自導(dǎo)通周期內(nèi)從漏極到源極的電流di/dt,。圖2所示的電流波形(Q和Q2on)不是很規(guī)則的梯形,，但是我們的操作自由度也就更大，因為導(dǎo)體電流的過渡相對較慢,，所以可以應(yīng)用Henry Ott經(jīng)典著作《電子系統(tǒng)中的噪聲降低技術(shù)》中的公式1,。我們發(fā)現(xiàn)，對于個類似的波形,，其上升和下降時間會直接影響諧波振幅或傅里葉系數(shù)(In),。
    PHOENIX電源模塊其中，n是諧波次,，T是周期,，I是波形的峰值電流強度,，d是占空比，而tr是tr或tf的zui小值,。
    在實際應(yīng)用中,，極有可能會同時遇到奇次和偶次諧波發(fā)射。如果只產(chǎn)生奇次諧波,，那么波形的占空比必須為50%,。而實際情況中極少有這樣的占空比精度。
    諧波系列的電磁干擾幅度受Q1和Q2的通斷影響,。在測量漏源電壓VDS的上升時間tr和下降時間tf,，或流經(jīng)Q1和Q2的電流上升率di/dt 時，可以很看到這點,。這也表示,，我們可以很簡單地通過減緩Q1或Q2的通斷速度來降低電磁干擾水平。
    事實正是如此,，延長開關(guān)時間的確對頻率高于 f=1/πtr的諧波有很大影響,。不過，此時必須在增加散熱和降低損耗間進(jìn)行折中,。盡管如此,，對這些參數(shù)加以控制仍是個好方法，它有助于在電磁干擾和熱間取得平衡,。具體可以通過增加個小阻值電阻(通常小于5Ω)實現(xiàn),，該電阻與Q1和Q2的柵極串聯(lián)即可控制tr和tf，你也可以給柵極電阻串聯(lián)個 “關(guān)斷二極管”來獨立控制過渡時間tr或tf(見圖3),。這其實是個迭代過程,，甚連經(jīng)驗zui豐富的電源設(shè)計人員都使用這種方法。我們的zui終目標(biāo)是通過放慢晶體管的通斷速度,，使電磁干擾降低可接受的水平,，同時其溫度足夠低以確保穩(wěn)定性。
    開關(guān)節(jié)點的物理回路面積對于控制電磁干擾也非常重要,。通常,，出于PCB面積的考慮，設(shè)計者都希望結(jié)構(gòu)越緊湊越好,，但是許多設(shè)計人員并不知道哪部分布局對電磁干擾的影響zui大,。回到之前的降壓穩(wěn)壓器例子上,，該例中有兩個回路節(jié)點(如圖4和圖5所示),，它們的尺寸會直接影響到電磁干擾水平。