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全反射X熒光光譜儀有哪些優(yōu)勢(shì)之處

閱讀:3948      發(fā)布時(shí)間:2019-8-12
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全反射X熒光光譜技術(shù)(TXRF)基于X熒光能譜法(EDXRF),但與能譜分析有著明顯的區(qū)別:傳統(tǒng)EDXRF采用原級(jí)X光束以45°角轟擊樣品,,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射,。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級(jí)X光束幾乎可以全部被反射,,照射在樣品表面后,,盡可能上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時(shí)減小了載體的背景和噪聲,,亦可減少樣品使用量,。

與原子吸收及發(fā)射光譜方法相比,TXRF具有如下優(yōu)勢(shì):

1,、無(wú)需復(fù)雜的樣品前處理過(guò)程,,原子吸收或ICP的樣品前處理占據(jù)了整個(gè)分析過(guò)程的絕大部分時(shí)間,通常耗時(shí)幾個(gè)小時(shí)甚至幾天,,同時(shí)TXRF能有效避免前處理引入的誤差,;

2、對(duì)于易揮發(fā)元素有良好檢測(cè)效果,,如Hg/As/Se在消解過(guò)程中會(huì)損失,,Cl/Br/I等ICP檢測(cè)效果較差;

3,、檢測(cè)元素種類(lèi)更多,,可達(dá)80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到U;

4,、檢出限更低,,多數(shù)元素在ppt級(jí),尤其Pb/Rh等元素,,而原子吸收或ICP為ppb級(jí),。

 

與ICP-MS方法相比,,兩者檢出限基本持平,但TXRF可以無(wú)視ICP-MS如下痛點(diǎn):

1,、ICP-MS的耐鹽度較差,,分析高鹽分樣品時(shí)檢出限差(S/Ca/Fe/K/Se等),同時(shí)酸基體對(duì)于測(cè)量影響顯著,,如鹽酸,、高氯酸、磷酸,、硫酸會(huì)引起質(zhì)譜干擾,;

2、ICP-MS根據(jù)質(zhì)核比檢測(cè)元素,,當(dāng)存在同質(zhì)異位素時(shí),,很難的完成檢測(cè);

3,、ICP-MS需要超凈實(shí)驗(yàn)室,,造價(jià)昂貴;

4,、ICP-MS運(yùn)行成本高,,取樣錐、渦輪泵,、檢測(cè)器為易損件,。

 

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